$ USD
USD - United States Dollar (US$)
EUR - Euro (€)
GBP - British Pound (£)
CAD - Canadian Dollar (C$)
AUD - Australian Dollar (A$)
BRL - Brazilian Real (R$)
MXN - Mexican Peso (Mex$)
NZD - New Zealand Dollar (NZ$)
JPY - Japanese Yen (¥)
CNY - Chinese Renminbi Yuan (CN¥)
INR - Indian Rupee (₹)
TRY - Turkish Lira (₺)
THB - Thai Baht (฿)
PLN - Polish Zloty (zł)
ZAR - South African Rand (R)
AED - United Arab Emirates Dirham (د.إ)
RUB - Russian Ruble (₽)
RON - Romanian Leu (Lei)
HUF - Hungarian Forint (Ft)
BOB - Bolivian Boliviano (Bs)
読み込み中...
ログイン / 新規登録
検索内容入力にスキップ
カテゴリにスキップ
カテゴリ
Tip:
メーカー、モデル、キーワードを入力してください
半導体装置
»
計測・検査（半導体）
»
東京都
検索条件
メーカーを選択
Hitachi
(13)
KLA-Tencor
(1)
すべてを見る »
Dainippon Screen
(3)
Jeol
(2)
Nanometrics
(2)
Olympus
(1)
検索条件
メーカーを選択
Dainippon Screen
(3)
Hitachi
(13)
Jeol
(2)
KLA-Tencor
(1)
Nanometrics
(2)
Olympus
(1)
検索条件
種類
欠陥検査
(7)
ＣＤ－ＳＥＭ（臨界寸法走査電子顕微鏡）
(7)
Film Thickness Measurement
(1)
欠陥検査
(7)
ＣＤ－ＳＥＭ（臨界寸法走査電子顕微鏡）
(7)
Film Thickness Measurement
(1)
Building Filters
関連イベント
今ライブ
Unique offering of ThermoFisher FIB Systems by a leading Semiconductor manufacturer - USA - Malaysia - Israel
by AllSurplus
Online
終了 Dec 4th, 14:00 CST
イベントを見る
24
中古
計測・検査（半導体）
場所
東京都, 日本
この検索を保存
1
2
