中古 計測・検査（半導体） 場所 南韓国

JEOL JWS-7500E

• 中古

• メーカー: Jeol
• 型番: JWS-7500E

ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェハ検査装置 | 出荷: EXW

2013 ATI OAK-1

• 中古

• メーカー: ATI

出荷: EXW

NANOMETRICS CALPER-ULTRA

• 中古

• メーカー: Nanometrics

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

RUDOLPH S3000

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

2010 RUDOLPH S3000A

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

FEI FEM2010F

• 中古

• メーカー: FEI
• 型番: FEM2010F

詳細: デュアルビーム | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: FEI FEM2010F デュアルビーム

2005 RUDOLPH MP200

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• メーカー: Rudolph
• 型番: MP200

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

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• メーカー: Nanometrics
• 型番: CALIPERMOSAIC

ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW`。

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

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• メーカー: RODOLPH

ウエハサイズ: 12" | プロセス: フィルム厚み測定 | 出荷: EXW`。

ロドルフ・メタ・パルス300

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• メーカー: RODOLPH

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW`。

J.A Woollam VUV-VASE

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• メーカー: J.A Woollam

ウエハサイズ: 12" | プロセス: エリプソメーター | 出荷: EXW`。

2001 HITACHI S4700-I

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• メーカー: Hitachi
• 型番: S 4700

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 走査型電子顕微鏡 | 出荷: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 3

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• メーカー: Rudolph

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW

RUDOLPH S3000A

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | 出荷: EXW