半導体装置 » 計測・検査（半導体）

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中古計測・検査（半導体）

HITACHI S4700-II
- メーカー: Hitachi
- 型番: S-4700
ウエハサイズ: 12" | プロセス: FESEMとHorriba EMAX EDX | 出荷: EXW
大韓民国
2003 HITACHI RS 4000
- メーカー: Hitachi
- 型番: RS-4000
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 欠陥レビュー Sem | 出荷: EXW
大韓民国
2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- メーカー: Nanometrics
ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW
大韓民国
2003 RUDOLPH Meta Pulse 300
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定
大韓民国
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- メーカー: KLA_TENCOR
プロセス: 膜厚測定 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
2003 HITACHI RS4000
- メーカー: Hitachi
- 型番: RS-4000
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 欠陥レビュー Sem | 出荷: EXW
大韓民国
THERMO FISHER ECO 1000
- メーカー: Thermo Fisher Scientific
- 型番: ECO 1000
プロセス: FTIRシステム | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 200
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
JEOL JWS-7500E
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7500E
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェハ検査装置 | 出荷: EXW
大韓民国
2013 ATI OAK-1
- メーカー: ATI
出荷: EXW
大韓民国
NANOMETRICS CALPER-ULTRA
- メーカー: Nanometrics
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
2011 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
FEI FEM2010F
- メーカー: FEI
- 型番: FEM2010F
詳細: デュアルビーム | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: FEI FEM2010F デュアルビーム
大韓民国

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