中古 半導体 場所 大韓民国 ソウル

2009 Diener Electronic、FEMTO、プラズマシステム

• メーカー: Diener Electronic

シリアルno.: 80452 | 数量: 1 | 設備詳細: プラズマシステム | 装置: プラズマシステム | 記述: チャンバー容量 2～3 リットル

サス・ミロテック、ラボスピン、スピンコーター

• メーカー: SÜSS MicroTec

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: スピンコーター | 装置: スピンコーター | 記述: ウェハ 150~200mm

2003年 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm | Stock: 平坦度測定

2005 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

2003年KLA、Sp3、パーティクルカウンター

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: SP3

シリアルno.: 45120310476 | 数量: 1 | 設備詳細: パーティクルカウンター | 装置: パーティクルカウンター | 記述: ウェハ450mm

2013 LG PRI、TWI-450-3S、ウェーハ搬送

• メーカー: LG PRI

数量: 1 | 設備詳細: ウェハー・トランスファー | 装置: ウェハー・トランスファー | 記述: ウェハ450mm

Hスクエア、AVTkit8-007、EPIウェハ搬送

• メーカー: H-Square

シリアルno.: 519 | 数量: 1 | 設備詳細: EPIウェハー・トランスファー | 装置: EPIウェハー・トランスファー

LEDウェハー製造装置

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: LEDウェハー製造装置 | 装置: LEDウェハー製造装置 | 記述: N/A

2014 Veeco、Dektak6M、アルファステップ

• メーカー: Veeco - Sloan
• 型番: Dektak

シリアルno.: 24278 | 数量: 1 | 設備詳細: アルファ・ステップ | 装置: アルファ・ステップ | 記述: N/A

KLA TENCOR, P-15, サーフェスプロファイラ (windows NT)

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-15

シリアルno.: 0704120887 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（ウィンドウズNT） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: ウィンドウズNT

2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

日立、S-3000H、SEM（走査型電子顕微鏡）

• メーカー: Hitachi
• 型番: S-3000H

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: SEM（走査型電子顕微鏡） | 装置: SEM（走査型電子顕微鏡）

2012ディスコ、DFL7160、レーザースクライバー

• メーカー: Disco
• 型番: DFL7160

シリアルno.: KA1333 | 数量: 1 | 設備詳細: レーザースクライバー | 装置: レーザースクライバー | 記述: N/A

1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

2004 ADE、Ultrascan9300、ウェハー・ソーター

• メーカー: ADE

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: ウェハーソーター | 装置: ウェハーソーター | 記述: Wafer200mm