中古半導体場所南韓国

2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- メーカー: Nanometrics
- 型番: CALIPERMOSAIC
ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW`。
大韓民国
2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- メーカー: Nanometrics
- 型番: CALIPERMOSAIC
ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW`。
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | 出荷: EXW
大韓民国
1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
- メーカー: Nicolet
- 型番: MAGNA 560 FT-IR
出荷: EXW
大韓民国
2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- メーカー: Valley
- 型番: JVX6200I
ウエハサイズ: 12" | プロセス: X線計測（X線反射率） | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH WV320 MACRO
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2012 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | チェンバー: EXW
大韓民国
1996 BROOKS METARA 7200
- メーカー: Brooks
ウエハサイズ: 8" | プロセス: オーバーエイ | 出荷: EXW
Cheonan-si, 南韓国
KLA_TENCOR P-12
- メーカー: KLA_TENCOR
ウエハサイズ: 6",8" | プロセス: ディスクプロファイラー | 出荷: EXW
大韓民国
SEMITOOL WST305M
- メーカー: Semitool
- 型番: WST305M
プロセス: Cu PLTNG | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- メーカー: Leica
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- メーカー: Leica
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA AG KENSINGTON 300901
- メーカー: Leica
- 型番: KENSINGTON 300901
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA AG KENSINGTON 300901
- メーカー: Leica
- 型番: KENSINGTON 300901
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国