中古 品管 品証 関連

【中古品】日立 分光蛍光光度計 F-7000

波長範囲: 200～750nm（励起、蛍光共に） | 光源: 150Wキセノンランプ | 分光器: 無収差凹面回折格子900本/ｍｍ | 測光方式: 単色光モニタ比演算方式 | 分解: 1.0nm（Hg輝線546.1nm時） | スリット: 1.0,2.5,5,10,20nm（励起、蛍光共に） | 波長走査速度: 30,60,240,1200,2400,12000,30000,60000nm/min | 最小試料量: 0...

【中古品】IMV 小型振動試験装置 m120

• メーカー: IMV

振動発生機: m120 | 電力増幅器: MA1 | 加振力: 正弦波 1200N ランダム波 840Nrms ショック波 1200N | 最大加速度: 500m/s2(無負荷) | 最大速度: 1.6m/s | 最大変位: 30mmp-p | 最大搭載質量: 120kg | 可動部質量: 2.4kg | 振動部寸法: φ174mm | 冷却方式: 強制空冷 | 最大出力: 1.0KVA | 寸　　法: 振動発生機部 |...

【中古品】丸文通商 シュリーレン観察装置

【中古品】オンテック 加熱一体型リワークシステム RM-2500

【中古品】日立ハイテクサイエンス 高性能蛍光X線膜厚計 SFT9550X

X　線　管: 管電圧 50kV　管電流 600～1000μA定性アプリケーションのみ | Ｘ線照射方式: 上面垂直照射方式（ターゲット材料Mo、窓材質 Be） | Ｘ線光学系: ポリキャピラリ | ビーム径: φ30μｍ（MoKα線の90％を含む径） | Ｘ線検出部: ドリフト型半導体検出器（液化窒素レス） | 試料観察: CCDカメラ（ズーム有） | 焦点合わせ: レーザーポインター | 装置制御: X-ray Sta...

【中古品】ヤマト科学 濡れ性評価装置 Wettio NCW-100

年　式: 2020年 | 評価方式: 除去円検出法 | 設定圧力: 0～20kPa | 撮影画像形式: bitmapファイル | 評価画像形式: jpgファイル | 電　源: AC100V　1.5A　50/60Hz | 外　寸: 約W210×D347×H380㎜ | 重　量: 約10.5kg

【中古品】BYK社 マイクログロス光沢度計 60°

測定角度: 60° | 測定面積: 9×18mm | 光　源: タングステン フィラメント ランプ(12V/60mA) | 受光器: シリコンホトダイオード | 測定レンジ: 0-180グロスユニット（GU） | 分解能: 0.1GU | 寸　法: （測定器）W43×D72×H141mm | 重　量: （測定器）380g | 電　源: 9Vアルカリ電池

【中古品】オムニフィジックス コンパクト・マニュアルプローバ SE-1000

ステージ移動量: 約X130mm、Y190mm | 試料台ローテーション: 360度 | プローブとキャリアの移動量: 約13mm | チャックサイズ: 5インチ（φ130mm） | ウェハ保持方式: 真空吸着方式 | プローバー外寸法: 約W400×D450×H500mm | 重　　量: 約40㎏ | 実体顕微鏡: SZ6045CHI（オリンパス製／11241）、接眼レンズGSWH 20×、ズーム1～6.3× | 電　...

【中古品】ナプソン 抵抗率計 RT-70/TS-7D

測定方式: 直流４探針法（探針間隔 １mm） | 測定範囲: 1.0μΩcm～300.0kΩcm（抵抗率） | 測定時間: 約１秒（測定レンジ固定の場合） | 外寸法: W250xD313xH120mm（RT-70V） | 質　　量: 約5kg | 電　　源: AC100V 50/60Hz、30VA

【中古品】日本電色工業 微小面分光色差計 VSS-400

光学条件: 45°双方向照明　垂直受光 | 光　源: ハロゲンランプ | 測定面積: 0.1mmΦ、0.2mmΦ、0.5mmΦ、0.7mmΦ | 対物レンズ: 10倍対物レンズ | 測定距離: 約7mm | フィルター: 干渉フィルター（400nm～700nm　20nm間隔） | 試料台: 200×150mm（移動距離 | カメラ: CCDカメラ　カラー38万画素外部通信 | 外寸法: 約W360×D360×H460mm...

【中古品】キーエンス ダブルスキャン高精度レーザ測定器 LT-9500 LT-9030M

最小表示単位: 0.01μm | 表示範囲: ±9999.99μm | 表示周期: 10回/秒 | アナログ出力: ±10V×2出力、出力インピーダンス100Ω | 電　源: AC100~240V±10%　50/60Hz | 質　量: 約500g | 測定範囲: ±1.0mm | 基準距離: 30mm | 光　源: 赤色半導体レーザー | 光源波長: 655nm | 光源クラス: クラス１（JIS） | 光源スポット径:...

【中古品】大塚電子 顕微分光膜厚計 OPTM-A1

測定波長: 230～800nm | 膜厚測定範囲: 1nm～35nmSiO2換算 | レンズ: 反射対物レンズ20×（OP2LE-20） | 測定径: φ10μｍ | ﾌｫｰｶｽ機能: オートフォーカス | 多層膜解析: 最大50層 | 電源: AC100V　50/60Hz　370VA以下 | Xyz移動量: X200X × Y200 ×Z17（mm） | 本体寸法: W555 × D655 × H620（ｍｍ） | 本...

【中古品】ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-3020

光学倍率: 0.5×～7.5×（9.33×7～0.622×0.467mm）（タイプ１） | ストローク: X軸300×Y軸200×Z軸150(mm) | オートフォーカス: TTLレーザAF／イメージAF | 照　　明: 透過、垂直落射、8分割白色LEDリング照明（中入射角／大入射角） | 観察カメラ: カラー1／3型CCD | 作動距離: 50mm | 被検物重量: 最大20kg | ホストｐｃ: OS Windows...

【中古品】三鷹光器 非接触三次元測定装置 NH-3N

観察高額系: 無限遠鏡筒 | 対物レンズ: 10×（WD=7mm）、50×（WD=8.1mm）、100×（WD=3.18mm） | Ｘｙ軸: 0.1μｍ | 搭載台寸法: W244 × D240ｍｍ | 測定物最大高さ／重量: 105mm ／ 12kg | Ｚ１軸（ａｆ）: 0.01μｍ | Ｘ、ｙ軸: （2+4L／1000）μｍ | Ｚ１（ａｆ）: （0.3+0.5L／10）μm | フォーカスエリア: 100× | ...

【中古品】キーエンス 超深度カラー3D形状測定顕微鏡 VK-9510

測定レーザ光源: 波長バイオレットレーザ408nm（最大出力 | 対物レンズ: 10、20、50、150×（15型モニタ－倍率200×、400×、1000×、3000×） | 高さ測定: 測定範囲7ｍｍ、表示分解能0.01μｍ | 幅測定: 表示分解能0.01μｍ | 表示分解能: 1024×768 | 光学ズーム: 1～6×（0.1ステップ） | Ｘｙストローク: 70x70mm、回転360° | 電　　源: AC10...