中古 顕微鏡 場所 日本

日立ハイテク Hitachi High-Tech SU1510

日立ハイテク Hitachi High-Tech S-3700N

• メーカー: Hitachi
• 型番: S-3700N

日立ハイテク Hitachi High-Tech S-3500N

• メーカー: Hitachi
• 型番: S-3500N

日立ハイテクノロジーズ Hitachi High-Technologies S-2600H

ライカ Leica EM TXP

• メーカー: Leica

菱化システム R5300GL-M100

• メーカー: Ryoka System

オリンパス ピエゾステージ搭載金属顕微鏡 BX61

顕微鏡: BX61（Z軸電動制御） | 観察法: 明視野 | 照　　明: 落射（100Wハロゲン光源） | 対物レンズ: UMPLN FL 10x、LUCPLN FL 40x（補正環付）、UMPLN FL 100x | 顕微鏡カメラ: オリンパス/Teli CCDカラーカメラ（CS230B、有効画素数 768(H)×494(H)） | ステージ: X50xY50mm（MSS-50A、中央精機製）、QT-CM2/QT-Kコ...

オリンパス 測定顕微鏡 STM6

タイプ: 金属対物レンズ | ステージストローク: X100㎜×Y100㎜×Z155㎜ | 測定軸: X、Y、Z | 測定最小表示: 0.1μm | 観察法: 明視野、暗視野 | 被検物最大高さ: 100㎜ | 総合倍率: 50、100、200、500× | 回転テーブル: 無 | 接眼レンズ: 10×視野数22 | 照明: 透過・落射 | 対物レンズ: UMPlanFl BD 5、10、LMPlanFl BD 20、5...

ライカ 実体顕微鏡 MZ12

総合倍率: 6.4～80× | 俯角: 10°～50° | ズーム: 0.8～10.0× | 作動距離: 115㎜ | 接眼レンズ: 10×／21B | スタンド: 透過スタンド | 対物レンズ: PLAN 0.8×LWD | 照明: 透過照明 6V 20W | 鏡筒: 双眼俯角鏡筒 | その他: -

オリンパス システム実体顕微鏡 SZX7

総合倍率: 16～112× | 俯角: 低アイレベル鏡筒 SZX-TB1 | ズーム: 0.8～5.6× | 作動距離: 81mm | 接眼レンズ: WHSZ10×-H 視野数22 | スタンド: 民生品、X65mmxY50mmステージ付 | 対物レンズ: DF PL APO1× | 照明: - | 鏡筒: 双眼鏡筒 | その他: -

オリンパス 金属顕微鏡 BX60M

観察法: 明視野、暗視野、微分干渉 | ステージストローク: - | 総合倍率: 50、100、200、500× | 鏡筒: 普通視野双眼鏡筒（倒立、正像） | 接眼レンズ: WHSZ10×、視野数22 | 照明: 落射照明、12V100W | 対物レンズ: UMPlanFL 5x、10x、20x、50xBD P | その他: 微分干渉装置 | ステージ: U-SVRC、右下ハンドル

ニコン 測定顕微鏡 MM-800/LMU

タイプ: 金属対物タイプ | ステージストローク: 300x200mm（X,Y） | 測定軸: Ｘ、Ｙ、Ｚ | 測定最小表示: 0.1μm | 観察法: 明視野、暗視野、微分干渉 | 被検物最大高さ: 150mm | 総合倍率: 50、100、200、500x、1000x | 回転テーブル: Dタイプ（有効径250mm） | 接眼レンズ: CFI 10ｘ、視野数22 | 照明: 落射（ハロゲン、12V,50W）、透過（L...

ニコン 測定顕微鏡 MM-400/L

タイプ: 金属対物レンズ | ステージストローク: X100mm × Y100mm | 測定軸: X・Y軸、Z軸 | 測定最小表示: 0.1μm | 観察法: 明視野、暗視野 | 被検物最大高さ: 150mm | 総合倍率: 100、200、500× | 回転テーブル: 無し | 接眼レンズ: CFI10×/22（一本はレチクル入り） | 照明: 落射・透過 | 対物レンズ: TU Plan Fluor10、20×EPI...

ニコン システム実体顕微鏡 SMZ800

総合倍率: 10～63× | 俯角: - | ズーム: 1～6.3× | 作動距離: 78mm | 接眼レンズ: C-W10×視野数22 | スタンド: 標準プレーンスタンド（C-PS） | 対物レンズ: Plan　1× | 照明: - | 鏡筒: 双眼鏡筒（P-BT）