中古半導体場所大韓民国ソウル

RUDOLPH WV320 MACRO
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 300
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 金属厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- メーカー: KLA_TENCOR
プロセス: 膜厚測定 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC
- メーカー: SUNGJIN SEMITECH
プロセス: ウエハークリーナーオート | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR
- メーカー: Nicolet
- 型番: MAGNA 410 FT-IR
プロセス: 分光器 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600
- メーカー: Verteq
- 型番: SUPERCLEAN 1600
プロセス: スピン・リンサー・ドライヤー | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
CARLZEISS AXIOTON
- メーカー: CARLZEISS
プロセス: 検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- メーカー: Leica
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA AG KENSINGTON 300901
- メーカー: Leica
- 型番: KENSINGTON 300901
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA AG KENSINGTON 300901
- メーカー: Leica
- 型番: KENSINGTON 300901
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | Número de toldos: * | 出荷: EXW
大韓民国
APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7500E
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェハ検査装置 | 出荷: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR CI T1X0
- メーカー: KLA_TENCOR
プロセス: CI T1X0 | 出荷: EXW
京畿道, 南韓国
AMAT SEMVision
- メーカー: Amat
- 型番: Semvision
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
京畿道, 南韓国
JEOL JWS-7500E
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7500E
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェハ検査装置 | 出荷: EXW
大韓民国