半導体装置 » 計測・検査（半導体）

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中古計測・検査（半導体）

RUDOLPH Meta Pulse
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2012 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | チェンバー: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR P-12
- メーカー: KLA_TENCOR
ウエハサイズ: 6",8" | プロセス: ディスクプロファイラー | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 300
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 BRUKER JVX6200
- メーカー: Bruker
プロセス: メトロ | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH FE-4D
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | プロセス: フォーカスエリプソメーター | 出荷: EXW
大韓民国
2008 LASERTEC BGM 300
- メーカー: Lasertec
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェーハ表面分析・可視化システム | 出荷: EXW
大韓民国
2003 RUDOLPH MP200
- メーカー: Rudolph
- 型番: MP200
ウエハサイズ: 8
大韓民国
2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- メーカー: J.A.WOOLLAM
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ELLIPSOMETER | 出荷: EXW
大韓民国
JEOL JWS-7500E
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7500E
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェハ検査装置 | 出荷: EXW
大韓民国
2013 ATI OAK-1
- メーカー: ATI
出荷: EXW
大韓民国
2010 HITACHI IS3200SE
- メーカー: Hitachi
- 型番: IS-3200SE
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
NANOMETRICS CALPER-ULTRA
- メーカー: Nanometrics
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
2011 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国

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