半導体装置 » 計測・検査（半導体） » KLA-Tencor » afs-3220

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中古 KLA-Tencor afs-3220 計測・検査（半導体）

  • 2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定

    2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 2005 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    2005 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 2003年 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    2003年 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: AMS069 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国