中古 KLA-Tencor 計測・検査（半導体） 場所 京畿道, 南韓国

KLA TENCOR, P-15, ロングスキャンプロファイラ

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-15

シリアルno.: 905001693 | 数量: 1 | 設備詳細: ロングスキャンプロファイラ | 装置: ロングスキャンプロファイラ | 記述: N/A

KLA TENCOR, P-15, サーフェスプロファイラ (windows NT)

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-15

シリアルno.: 0704120887 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（ウィンドウズNT） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: ウィンドウズNT

2010 KLA TENCOR、アルファステップIQ、ASIQ3

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: 7083372 | 数量: 1 | 設備詳細: アルファ・ステップIQ | 装置: アルファ・ステップIQ | 記述: Windows 7 pro

KLA TENCOR, P-10, 表面形状測定器 (Windows DOS)

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-10

シリアルno.: 03970318 | 数量: 1 | 設備詳細: 表面形状測定器（Windows DOS） | 装置: 表面形状計 | 記述: ウィンドウズDOS

KLA TENCOR、P-15、サーフェスプロファイラ（windows XP Professional）

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-15

シリアルno.: 0803105587 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（windows XP Professional） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: Windows XP Professional

2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

2003年KLA、Sp3、パーティクルカウンター

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: SP3

シリアルno.: 45120310476 | 数量: 1 | 設備詳細: パーティクルカウンター | 装置: パーティクルカウンター | 記述: ウェハ450mm

2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: 48130711333 | 数量: 1 | 設備詳細: Wafersight3 | 装置: Wafersight3 | 記述: ウェハ450mm

2005 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: AMS069 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

2003年 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

KLA-TENCOR P 12

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-12

KLA P20H

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P20H

ウエハサイズ: 3