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KLA TENCOR, P-15, ロングスキャンプロファイラ
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
シリアルno.: 905001693 | 数量: 1 | 設備詳細: ロングスキャンプロファイラ | 装置: ロングスキャンプロファイラ | 記述: N/A
スウォン市, 南韓国
2010 KLA TENCOR、アルファステップIQ、ASIQ3
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: 7083372 | 数量: 1 | 設備詳細: アルファ・ステップIQ | 装置: アルファ・ステップIQ | 記述: Windows 7 pro
スウォン市, 南韓国
KLA TENCOR, P-15, サーフェスプロファイラ (windows NT)
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
シリアルno.: 0704120887 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（ウィンドウズNT） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: ウィンドウズNT
スウォン市, 南韓国
KLA TENCOR、P-15、サーフェスプロファイラ（windows XP Professional）
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
シリアルno.: 0803105587 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（windows XP Professional） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: Windows XP Professional
スウォン市, 南韓国
KLA TENCOR, P-10, 表面形状測定器 (Windows DOS)
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-10
シリアルno.: 03970318 | 数量: 1 | 設備詳細: 表面形状測定器（Windows DOS） | 装置: 表面形状計 | 記述: ウィンドウズDOS
スウォン市, 南韓国
大韓民国
大韓民国
2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: 48130711333 | 数量: 1 | 設備詳細: Wafersight3 | 装置: Wafersight3 | 記述: ウェハ450mm
スウォン市, 南韓国
2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm
スウォン市, 南韓国
1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: AMS069 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm
スウォン市, 南韓国
1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm
スウォン市, 南韓国
2003年KLA、Sp3、パーティクルカウンター
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: SP3
シリアルno.: 45120310476 | 数量: 1 | 設備詳細: パーティクルカウンター | 装置: パーティクルカウンター | 記述: ウェハ450mm
スウォン市, 南韓国
2005 KLA、AFS-3220、平面度測定機
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm
スウォン市, 南韓国
2003年 KLA、AFS-3220、平面度測定機
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm
スウォン市, 南韓国
KLA TENCOR P-15
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
大韓民国