中古 FIB/SEM (FEI、Nova 200 NanoLab) 場所 スウォン市, 京畿道, 南韓国
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仕様
説明
DualBeamTM-SEM/FIB
ナノスケールプロトタイピング、加工、
特性評価、および分析
100nm未満の構造の
FIB/SEM (FEI、Nova 200 NanoLab)
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