新品 Microtrac NANOTRAC WAVE II 場所 ハーン, ノルトライン・ヴェストファーレン州, ドイツ
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仕様
- 状態
- 新品
- 測定原理
- 動的光散乱式
- 計算方法
- 周波数解析法（FFT）
- 測定角度
- 180°
- 測定範囲
- 0.8 - 6500 nm
- サンプルセル
- サンプルに応じて、豊富なセルのラインナップ
- 粒子径分布測定専用
- あり
- ゼータ電位測定 測定範囲
- -200 mV - +200 mV
- ゼータ電位測定 (粒子径)
- 10 nm - 20 µm
- 電気泳動移動度
- 0 - 15 (µm/s) / (V/cm)
- 導電率測定
- あり
- 導電率範囲
- 0 - 10 mS / cm
- 分子量測定
- あり
- 分子量範囲
- ＜300 Da -＞ 20 x 10^6 Da
- 温度調整範囲
- +4°C - +90°C
- 温度精度
- ± 0.1°C
- 温度機能
- あり
- 温調範囲
- +4°C - +90°C
- 滴定
- あり
- 再現性 (粒子径)
- =＜ 1%
- 再現性 (ゼータ電位)
- + / - 3%
- 試料量(粒子径)
- 50 µl - 3 ml
- 試料量(ゼータ電位)
- 150 µl - 2 ml
- 濃度測定
- あり
- サンプル濃度
- 最大40w% (試料に依る)
- 使用可能溶媒
- 水、極性・非極性有機溶剤、酸・塩基
- 光源
- 780 nm, 3 mW; 2 laser diodes with zeta
- 湿度
- 90％以下（結露なきこと）
- 寸法 (w x h x d)
- 355 x 381 x 330 mm
- カテゴリー
- 分光法 場所 ドイツ
- サブカテゴリ―
- 動的光散乱 (dls)
- リスティングID
- 56870931
説明
Microtrac
の
NANOTRAC Wave II / Zeta
は、動的光散乱法を用いた粒子径分布、およびゼータ電位を測定する分析装置です。
プローブ構造と
を採用した独自の光学設計により、幅広い濃度範囲において安定した測定を実現しました。
また、周波数解析法
(FPS)
により、粒子径分布をパワースペクトル解析から直接求めることも可能であり、サンプルの単峰性または多峰性の評価を可能としています。
これらの設計により、粒子サイズ分布に関する事前の知識がなくても、あらゆるアプリケーションにて信頼性の高い、高精度な測定が行えます。
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II
180°後方散乱光検出機構
サンプルの入れ替えや電極交換不要 – 調整不要
高速で電場を反転させ、電気浸透流を防止
周波数スペクトル解析法
高濃度ゼータ電位測定
分子量測定
有機溶剤対応
直接検出方式による低濃度から高濃度までの安定したデータ
ヘテロダイン法 – 高SN比
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II / ZETA
コロイド系の正確な測定
NANOTRAC WAVEシリーズは、DLS測定に革新的なプローブ技術を採用しています。
方式を採用することで、あらゆる種類の材料に対して、再現性のある安定した粒子径測定が可能です。
また、流体力学的半径またはDebyeプロットのいずれかによって分子量を計算することも可能です。
NANOTRAC WAVE IIでは、異なるサイズの再利用可能なサンプルセルを備えています。標準およびマイクロボリュームのフッ素樹脂製セルがあり、幅広い素材に対応しています。
NANOTRAC WAVE II Zetaは、ゼータ電位測定用の電極を備えた、再利用可能な特別なゼータセルを備えています。Wave IIのサンプルセルは、ゼータ・モデルにも対応しています。
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II / ZETA
粒子径分布・ゼータ電位測定装置
Microtrac DLS測定装置におけるゼータ電位の測定は、ナノ粒子の粒子径分布の測定に使用されているのと同じ周波数スペクトル解析法を利用しています。サンプル入れ替えや電極の交換は必要ありません。移動度を粒子径分布測定と同様に検出します。