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中古計測・検査（半導体）

2010 HITACHI IS3200SE
- メーカー: Hitachi
- 型番: IS-3200SE
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
2010 Kobelco SBW-330
- メーカー: Kobelco
- 型番: SBW-330
詳細: ウェハ・テストと計測 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: SBW-330 ウェハー・テストと計測
大韓民国
2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- メーカー: Valley
- 型番: JVX6200I
ウエハサイズ: 12" | プロセス: X線計測（X線反射率） | 出荷: EXW
大韓民国
Cyber optics Cyberscan C212/110
- メーカー: Cyber optics
詳細: レーザー計測 | 船積み: 梱包・発送は購入者の責任となります。 | コンメンタール: サイバースキャン C212/110 レーザーメジャー
大韓民国
1997 LG SEMICON CLS-9002
- メーカー: LG SEMICON
プロセス: 第3回光学検査 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
JEOL JWS-7515
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7515
詳細: ウェハー分離 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: 日本電子 JWS-7515 ウェハ検査
大韓民国
2010 RUDOLPH WS3840
- メーカー: Rudolph
- 型番: WS3840
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 3Dバンプ計測 | 出荷: EXW`。
大韓民国
JEOL JWS-7515
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7515
詳細: ウェハ検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: 日本電子 JWS-7515 ウェハ検査
大韓民国
2006年日立ISE2700E
- メーカー: Hitachi
- 型番: IS-2700SE
ウエハサイズ: 12" | 詳細: Eビーム検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: HITACHI IS2700SE Eビーム検査
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000S
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000S
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000S
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000S
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000S
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000S
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国