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- 信頼できる販売者
ドイツ - 信頼できる販売者

2023 Nanbei UM-3
- メーカー: Nanbei
- 型番: UM3
鄭州市, 中国 - 信頼できる販売者

2023 Nanbei UM-2D
- メーカー: Nanbei
- 型番: UM2
鄭州市, 中国 
GR-E060 フラットチャック
- メーカー: cometech testing machines
容量: 200N | フェース幅: 26mm | 試験片厚さ: 0.1~3mm | 最小ロードセル: 20N | 耐温度: 0~100℃ | 質量: 170g
台中, 台湾
GR-E040 細線グリップ
- メーカー: cometech testing machines
容量: 200N | 線の直径: Ø0.5〜Ø1mm | 最小ロードセル: 20N | 耐温度: -10~200℃ | 質量: 214g
台中, 台湾
GR-E010 細線グリップ
- メーカー: cometech testing machines
容量: 2kN | 線の直径: Ø0.1〜Ø1mm | 最小ロードセル: 20N | 耐温度: -10~200℃ | 質量: 432g
台中, 台湾
GR-E030 フラットチャック
- メーカー: cometech testing machines
容量: 500N | フェース幅: 26mm | 試験片厚さ: 0.1~2mm | 最小ロードセル: 50N | 耐温度: -10~200℃ | 質量: 585g
台中, 台湾
GR-E080 線材用グリップ
- メーカー: cometech testing machines
容量: 5kN | フェース幅: 15mm | 線の直径: Ø0.1~Ø4.0mm | 最小ロードセル: 200N | 耐温度: 0~200℃ | 質量: 1960g
台中, 台湾
GR-E050 線材用グリップ
- メーカー: cometech testing machines
容量: 2kN | 線の直径: Ø0.5〜Ø2mm | 最小ロードセル: 100N | 耐温度: -10~200℃ | 質量: 1400g
台中, 台湾
GR-E08A 線材用グリップ
- メーカー: cometech testing machines
容量: 5kN | フェース幅: 25mm | 線の直径: Ø0.1~Ø4.0mm | 最小ロードセル: 200N | 耐温度: 0~200℃ | 質量: 2050g
台中, 台湾
伸び計(ショート) Confirm to ISO 6892, ISO 527 ASTM E8,ASTM D3039,ASTM D638, ASTM A370, ASTM D3552 Standard
- メーカー: cometech testing machines
標点距離: 25mm/50mm(交換可能) | 最大範囲: 25mm | 伸び率: 100%(25mmの場合)/50%(50mmの場合) | 推奨使用試験範囲: 0.5%~50% | 使用環境温度: 0℃~70℃ | 試験片サイズ範囲: 平面試験片 0-22mm円形試験片 Ø6-22mm | 解析度: 0.5μm | 最大出力キロヘルツ: 64KHZ | 入力電圧: DC5V±5% | 重量: 200g
台中, 台湾
電動式検撚機, 手動式検撚機 Confirm to ISO 2061 ASTM D1422 BS-903 FZ-T10001 JIS L1095 Standard
- メーカー: cometech testing machines
分銅: 0.3g、0.5g、0.8g、1g、2g、3g、5g 各1個、10g x 2個 | 試験片長さ: 5~52cm[最大距離は常用10”(25.4cm) と 20”(50.8cm)、 或いは指定長さ] | 基本荷重: 1.2 g | 本体重量: 11 kg
台中, 台湾
IEC62133 SJ/T11170の縦の小さい電子工学の自由な落下低下のテスター
- メーカー: Gaoxin
- 型番: GX-6052
代わりとなる名前: 自由な落下試験装置 | 機能: 標本がある特定の高さからの損なわれた低下であるかどうか小さい家電のために適したテスト。 | タイプ: 単一の翼の電磁石のタイプ | 重量: 80kg | 容積: 700mm*900mm*1650mm | 対応するテスト標準: UL2054-2008、SJ/T11170、IEC62133、SJ/T11169 | モデル: GX-6052 | 最高。 標本の高さ: 300-...
東莞市, 中国
UL2054-2008 SJ/T11170 IEC62133 SJ/T11169の縦の自由な落下低下のテスター
- メーカー: Gaoxin
- 型番: GX-6052
代わりとなる名前: 自由な落下試験装置 | 機能: 標本がある特定の高さからの損なわれた低下であるかどうか小さい家電のために適したテスト。 | タイプ: 単一の翼の電磁石のタイプ | 重量: 80kg | 容積: 700mm*900mm*1650mm | 対応するテスト標準: UL2054-2008、SJ/T11170、IEC62133、SJ/T11169 | モデル: GX-6052 | 最高。 標本の高さ: 300-...
東莞市, 中国
単一の翼の携帯電話のための電磁石の自由な落下低下のテスター
- メーカー: Gaoxin
- 型番: GX-6052
代わりとなる名前: 自由な落下試験装置 | 機能: 標本がある特定の高さからの損なわれた低下であるかどうか小さい家電のために適したテスト。 | タイプ: 単一の翼の電磁石のタイプ | 重量: 80kg | 容積: 700mm*900mm*1650mm | 対応するテスト標準: UL2054-2008、SJ/T11170、IEC62133、SJ/T11169 | モデル: GX-6052 | 最高。 標本の高さ: 300-...
東莞市, 中国
