半導体装置 » 計測・検査（半導体） » 南韓国

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by Capital Recovery Group

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終了 Oct 8th, 15:00 CDT
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中古 計測・検査（半導体） 場所 南韓国

  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • メーカー: Rudolph

    ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW

    大韓民国
  • 2010 BRUKER JVX6200

    2010 BRUKER JVX6200

    • メーカー: Bruker

    プロセス: メトロ | 出荷: EXW

    大韓民国
  • RUDOLPH FE-4D

    RUDOLPH FE-4D

    • メーカー: Rudolph

    ウエハサイズ: 8" | プロセス: フォーカスエリプソメーター | 出荷: EXW

    大韓民国
  • 2008 LASERTEC BGM 300

    2008 LASERTEC BGM 300

    • メーカー: Lasertec

    ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェーハ表面分析・可視化システム | 出荷: EXW

    大韓民国
  • 2003 RUDOLPH MP200

    2003 RUDOLPH MP200

    • メーカー: Rudolph
    • 型番: MP200

    ウエハサイズ: 8

    大韓民国
  • 2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    • メーカー: J.A.WOOLLAM

    ウエハサイズ: 8" | プロセス: ELLIPSOMETER | 出荷: EXW

    大韓民国
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