半導体装置 » 計測・検査（半導体）

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中古計測・検査（半導体）

1991 KLA SFS7200
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: SFS7200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 計測 | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH WV320
- メーカー: Rudolph
- 型番: WV320
ウエハサイズ: 12" | プロセス: マクロ検査 | 出荷: EXW`。
大韓民国
2005 VISTEC LWM9000
- メーカー: Vistec
ウエハサイズ: 6" | 出荷: EXW
大韓民国
2010 HITACHI LS9000
- メーカー: Hitachi
- 型番: LS9000
出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH WV320 MACRO
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | 出荷: EXW
大韓民国
2003 HITACHI RS4000
- メーカー: Hitachi
- 型番: RS-4000
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 欠陥審査セミ | 出荷: EXW
大韓民国
2013 HITACHI RS6000
- メーカー: Hitachi
- 型番: RS-6000
出荷: EXW
大韓民国
1991年ニコン3
- メーカー: Nikon
Drilling diameter 1: 5" | プロセス: オプティステーション
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH WV320 MACRO
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | 出荷: EXW
大韓民国
2006 KLA CI T1X0
- メーカー: KLA-Tencor
出荷: EXW
大韓民国
HSEB AXIOTRON 300
- メーカー: HSEB
出荷: EXW
大韓民国
JEOL JWS-7500E
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7500E
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェハ検査装置 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 RUDOLPH WS3840
- メーカー: Rudolph
- 型番: WS3840
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 3Dバンプ計測 | 出荷: EXW`。
大韓民国
JEOL JWS-7515
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7515
詳細: ウェハ検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: 日本電子 JWS-7515 ウェハ検査
大韓民国

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