中古 計測・検査（半導体）

2011 RUDOLPH S3000A

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

2011 RUDOLPH S3000A

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

RUDOLPH S3000A

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

RUDOLPH S3000A

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW

ONTO WV320

• 中古

• メーカー: Onto

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• 中古

• メーカー: RODOLPH

ウエハサイズ: 8 | 3 ウエハーサイズ: 8" | 出荷: EXW

HITACHI S4700-II

• 中古

• メーカー: Hitachi
• 型番: S 4700

ウエハサイズ: 12" | プロセス: FESEMとHorriba EMAX EDX | 出荷: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• 中古

• メーカー: PUDOLPH

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• 中古

• メーカー: Nanometrics

ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• 中古

• メーカー: Hitachi
• 型番: RS 4000

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 欠陥レビュー Sem | 出荷: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• 中古

• メーカー: Rudolph

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定

1999 NEC NEC SL-473F

• 中古

• メーカー: NEC
• 型番: SL-473F

プロセス: ウエハマーカー | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• 中古

• メーカー: KLA_TENCOR

プロセス: 膜厚測定 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• 中古

• メーカー: Nanometrics

ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW