中古 半導体装置 場所 京畿道, 南韓国

TEL、Mark-Vz、コーターデベロッパー

• メーカー: Tokyo Electron - TEL

シリアルno.: 523787 | 数量: 1 | 設備詳細: コーター開発者 | 装置: コーター＆デベロッパー | 記述: N/A

2009 Diener Electronic、FEMTO、プラズマシステム

• メーカー: Diener Electronic

シリアルno.: 80452 | 数量: 1 | 設備詳細: プラズマシステム | 装置: プラズマシステム | 記述: チャンバー容量 2～3 リットル

2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

日立、S-3000H、SEM（走査型電子顕微鏡）

• メーカー: Hitachi
• 型番: S-3000H

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: SEM（走査型電子顕微鏡） | 装置: SEM（走査型電子顕微鏡）

2012ディスコ、DFL7160、レーザースクライバー

• メーカー: Disco
• 型番: DFL7160

シリアルno.: KA1333 | 数量: 1 | 設備詳細: レーザースクライバー | 装置: レーザースクライバー | 記述: N/A

1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

2004 ADE、Ultrascan9300、ウェハー・ソーター

• メーカー: ADE

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: ウェハーソーター | 装置: ウェハーソーター | 記述: Wafer200mm

2014 エコー技研、PCS-FCS、ウエハ450mm

• メーカー: Echo Giken

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: PCS-FCS（プロセス制御システム-工場制御システム） | 記述: número de ejes

ラムリサーチ、Rainbow4420、プラズマクリーナー

• メーカー: Lam Research - Novellus
• 型番: RAINBOW 4420

シリアルno.: 1012001 | 数量: 1 | 設備詳細: プラズマクリーナー | 装置: プラズマクリーナー | 記述: N/A

KLA TENCOR, P-10, 表面形状測定器 (Windows DOS)

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-10

シリアルno.: 03970318 | 数量: 1 | 設備詳細: 表面形状測定器（Windows DOS） | 装置: 表面形状計 | 記述: ウィンドウズDOS

LEDウェハー製造装置

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: LEDウェハー製造装置 | 装置: LEDウェハー製造装置 | 記述: N/A

2006 ADE、Ultrascan9300、ウェハー・ソーター

• メーカー: ADE

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: ウェハーソーター | 記述: ウェハ 200mm

2014年 ウエハ搬送、ウエハ300mm

シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: ウェハー・トランスファー | 装置: ウェハー・トランスファー | 記述: ウェハ 300mm

1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: AMS069 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

• メーカー: KLA-Tencor

シリアルno.: 48130711333 | 数量: 1 | 設備詳細: Wafersight3 | 装置: Wafersight3 | 記述: ウェハ450mm