半導体装置 » 試験および測定

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中古試験および測定

OMRON AOI Inspection System
- 中古
- メーカー: Omron
大阪市, 日本
OMRON AOI Inspection System
- 中古
- メーカー: Omron
大阪市, 日本
OMRON AOI Inspection System
- 中古
- メーカー: Omron
大阪市, 日本
OMRON AOI Inspection System
- 中古
- メーカー: Omron
大阪市, 日本
GIGAVIS.CO.,LTD AOI
- 中古
- メーカー: GIGAVIS.CO.,LTD
大阪市, 日本
OMRON AOI Inspection System
- 中古
- メーカー: Omron
大阪市, 日本
OMRON AOI Inspection System
- 中古
- メーカー: Omron
大阪市, 日本
OMRON AOI Inspection System
- 中古
- メーカー: Omron
大阪市, 日本
1997 KLA AIT
- 中古
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: AIT
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
朝鮮
2004 KLA Viper 2435XP
- 中古
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: Viper 2435
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
京畿道, 南韓国
2005 RUDOLPH MP-300
- 中古
- メーカー: Rudolph
- 型番: MP 300
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
京畿道, 南韓国
2004 KLA Viper 2435
- 中古
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: Viper 2435
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
京畿道, 南韓国
2004 KLA VIPER 2430
- 中古
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: Viper 2430
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
京畿道, 南韓国
2008 RUDOLPH MP1-300XCU
- 中古
- メーカー: Rudolph
- 型番: MP 300
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2007 RUDOLPH MP300
- 中古
- メーカー: Rudolph
- 型番: MP 300
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国