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中古計測・検査（半導体）

2010 Kobelco SBW-330
- メーカー: Kobelco
- 型番: SBW-330
詳細: ウェハ・テストと計測 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: SBW-330 ウェハー・テストと計測
大韓民国
2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- メーカー: Valley
- 型番: JVX6200I
ウエハサイズ: 12" | プロセス: X線計測（X線反射率） | 出荷: EXW
大韓民国
Cyber optics Cyberscan C212/110
- メーカー: Cyber optics
詳細: レーザー計測 | 船積み: 梱包・発送は購入者の責任となります。 | コンメンタール: サイバースキャン C212/110 レーザーメジャー
大韓民国
1997 LG SEMICON CLS-9002
- メーカー: LG SEMICON
プロセス: 第3回光学検査 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
JEOL JWS-7515
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7515
詳細: ウェハー分離 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: 日本電子 JWS-7515 ウェハ検査
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000S
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000S
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000S
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000S
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000S
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000S
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
RUDOLPH S3000
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
2010年トーリヤSP-500W
- メーカー: Toray
- 型番: SP-500W
ウエハサイズ: 12" | 東レsp-500w: A103141741 | 詳細: バンプの高さ測定 | コンディション: 現状有姿 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: SP-500W バンプ高さ測定
大韓民国
2006 EO technology For glass panel
- メーカー: EO technology
詳細: ガラス用レーザーマーカー | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: EO tech ガラスパネル用、ガラス用レーザーマーカー
大韓民国
NGR NGR2150
- メーカー: NGR
ウエハサイズ: 12" | 詳細: CD-SEM | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: NGR2150 CD SEM
大韓民国