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中古計測・検査（半導体）

2006 EO technology For glass panel
- メーカー: EO technology
詳細: ガラス用レーザーマーカー | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: EO tech ガラスパネル用、ガラス用レーザーマーカー
大韓民国
NGR NGR2150
- メーカー: NGR
ウエハサイズ: 12" | 詳細: CD-SEM | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: NGR2150 CD SEM
大韓民国
1996 KRA TENCOR P-2
- メーカー: KLA-Tencor
ウエハサイズ: 6",8" | 配信: EXW
大韓民国
2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- メーカー: Nanometrics
- 型番: CALIPERMOSAIC
ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW`。
大韓民国
2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- メーカー: Nanometrics
- 型番: CALIPERMOSAIC
ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW`。
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2012 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | チェンバー: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR P-12
- メーカー: KLA_TENCOR
ウエハサイズ: 6",8" | プロセス: ディスクプロファイラー | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 300
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 BRUKER JVX6200
- メーカー: Bruker
プロセス: メトロ | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH FE-4D
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | プロセス: フォーカスエリプソメーター | 出荷: EXW
大韓民国
2008 LASERTEC BGM 300
- メーカー: Lasertec
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェーハ表面分析・可視化システム | 出荷: EXW
大韓民国
2003 RUDOLPH MP200
- メーカー: Rudolph
- 型番: MP200
ウエハサイズ: 8
大韓民国
2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- メーカー: J.A.WOOLLAM
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ELLIPSOMETER | 出荷: EXW
大韓民国
JEOL JWS-7515
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7515
詳細: ウェハ検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: 日本電子 JWS-7515 ウェハ検査
大韓民国

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