半導体装置 » 南韓国

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中古半導体装置場所南韓国

2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
- メーカー: Nanometrics
ウエハサイズ: 12" | プロセス: マスク＆ウェハ検査 | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH WV320 MACRO
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2012 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | チェンバー: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR P-12
- メーカー: KLA_TENCOR
ウエハサイズ: 6",8" | プロセス: ディスクプロファイラー | 出荷: EXW
大韓民国
SEMITOOL WST305M
- メーカー: Semitool
- 型番: WST305M
プロセス: Cu PLTNG | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- メーカー: Leica
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- メーカー: Leica
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA AG KENSINGTON 300901
- メーカー: Leica
- 型番: KENSINGTON 300901
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
LEICA AG KENSINGTON 300901
- メーカー: Leica
- 型番: KENSINGTON 300901
プロセス: ウェハ検査顕微鏡 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
WAFER MASTERS SAO-203LP
- メーカー: WAFER MASTERS
ウエハサイズ: 12" | プロセス: TSV Cuアニール | 出荷: EXW`。
大韓民国
WONIK IPS MAHA HP
- メーカー: WONIK IPS
ウエハサイズ: 12" | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: ウォニックIPSマハHP
大韓民国
オックスフォード 800+ リー
- メーカー: OXFORD
ウエハサイズ: 5" | プロセス: RIE
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 300
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 BRUKER JVX6200
- メーカー: Bruker
プロセス: メトロ | 出荷: EXW
大韓民国

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