半導体装置 » 計測・検査（半導体）

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中古計測・検査（半導体）

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- 中古
- メーカー: Nanometrics
- 型番: CALIPERMOSAIC
ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW`。
大韓民国
2013 RODOLPH Meta Pulse 300
- 中古
- メーカー: RODOLPH
ウエハサイズ: 12" | プロセス: フィルム厚み測定 | 出荷: EXW`。
大韓民国
ロドルフ・メタ・パルス300
- 中古
- メーカー: RODOLPH
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW`。
大韓民国
J.A Woollam VUV-VASE
- 中古
- メーカー: J.A Woollam
ウエハサイズ: 12" | プロセス: エリプソメーター | 出荷: EXW`。
大韓民国
2001 HITACHI S4700-I
- 中古
- メーカー: Hitachi
- 型番: S 4700
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 走査型電子顕微鏡 | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 3
- 中古
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000A
- 中古
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 300
- 中古
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 金属厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- 中古
- メーカー: KLA_TENCOR
プロセス: 膜厚測定 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
ジョーダンバレーJVX6200
- 中古
- メーカー: JORDANVALLEY
ウエハサイズ: 12"
大韓民国
LINDA IN5-HI
- 中古
- メーカー: LINDA
ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH FE-3
- 中古
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | プロセス: フォーカスエリプソメーター | 出荷: EXW
大韓民国
2008 RAYTEX RXW-800
- 中古
- メーカー: RAYTEX
ウエハサイズ: 8" | プロセス: エッジ・スキャン | 出荷: EXW
大韓民国
2010 RUDOLPH WS3840
- 中古
- メーカー: Rudolph
- 型番: WS3840
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 3Dバンプ計測 | 出荷: EXW`。
大韓民国
JEOL JWS-7515
- 中古
- メーカー: Jeol
- 型番: JWS-7515
詳細: ウェハ検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: 日本電子 JWS-7515 ウェハ検査
大韓民国