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Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

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中古 計測・検査（半導体） 場所 南韓国

  • 2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定

    2021 KLA、AFS-3220、平坦度測定

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • KLA TENCOR, P-10, 表面形状測定器 (Windows

    KLA TENCOR, P-10, 表面形状測定器 (Windows DOS)

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor
    • 型番: P-10

    シリアルno.: 03970318 | 数量: 1 | 設備詳細: 表面形状測定器（Windows DOS） | 装置: 表面形状計 | 記述: ウィンドウズDOS

    スウォン市, 南韓国
  • 1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: AMS069 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

    2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: 48130711333 | 数量: 1 | 設備詳細: ウェハーサイト3 | 装置: ウェハーサイト3 | 記述: ウェハ450mm

    スウォン市, 南韓国
  • VEECO、DEKTAK6M、サーフェスプロファイラ

    VEECO、DEKTAK6M、サーフェスプロファイラ

    • 中古

    • メーカー: Veeco - Sloan
    • 型番: Dektak

    シリアルno.: 34542 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: スキャン長50㎛～30mm、ウェーハ直径150mm

    スウォン市, 南韓国
  • KLA TENCOR, P-15, ロングスキャンプロファイラ

    KLA TENCOR, P-15, ロングスキャンプロファイラ

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor
    • 型番: P-15

    シリアルno.: 905001693 | 数量: 1 | 設備詳細: ロングスキャンプロファイラ | 装置: ロングスキャンプロファイラ | 記述: N/A

    スウォン市, 南韓国
  • KLA TENCOR、P-15、サーフェスプロファイラ（windows XP Professional）

    KLA TENCOR、P-15、サーフェスプロファイラ（windows XP Professional）

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor
    • 型番: P-15

    シリアルno.: 0803105587 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（windows XP Professional） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: Windows XP Professional

    スウォン市, 南韓国
  • 2010 KLA TENCOR、アルファステップIQ、ASIQ3

    2010 KLA TENCOR、アルファステップIQ、ASIQ3

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: 7083372 | 数量: 1 | 設備詳細: アルファ・ステップIQ | 装置: アルファ・ステップIQ | 記述: Windows 7 pro

    スウォン市, 南韓国
  • 2003年 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    2003年 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: N/A | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 2005 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    2005 KLA、AFS-3220、平面度測定機

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor

    シリアルno.: AMS101 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm

    スウォン市, 南韓国
  • 2003年KLA、Sp3、パーティクルカウンター

    2003年KLA、Sp3、パーティクルカウンター

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor
    • 型番: SP3

    シリアルno.: 45120310476 | 数量: 1 | 設備詳細: パーティクルカウンター | 装置: パーティクルカウンター | 記述: ウェハ450mm

    スウォン市, 南韓国
  • 2014 Veeco、Dektak6M、アルファステップ

    2014 Veeco、Dektak6M、アルファステップ

    • 中古

    • メーカー: Veeco - Sloan
    • 型番: Dektak

    シリアルno.: 24278 | 数量: 1 | 設備詳細: アルファ・ステップ | 装置: アルファ・ステップ | 記述: N/A

    スウォン市, 南韓国
  • KLA TENCOR, P-15, サーフェスプロファイラ (windows

    KLA TENCOR, P-15, サーフェスプロファイラ (windows NT)

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor
    • 型番: P-15

    シリアルno.: 0704120887 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（ウィンドウズNT） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: ウィンドウズNT

    スウォン市, 南韓国
  • 2000年 KLA 2139

    2000年 KLA 2139

    • 中古

    • メーカー: KLA-Tencor
    • 型番: 2139

    ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW

    大韓民国
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概要

半導体計測は、半導体ウェーハやデバイスの測定と分析を含みます。このカテゴリには、半導体製造プロセスの精度と正確さを確保するためのツールと装置が含まれます。これらの機器は品質管理に不可欠であり、欠陥を検出し、デバイスが厳しい業界基準を満たしていることを確認するのに役立ちます。

よくあるご質問

半導体計測機器を購入する際に考慮すべき要素は何ですか?

機器の測定精度、解像度、および特定の半導体プロセスとの互換性を考慮してください。ベンダーのサポートサービスや既存システムへの統合のしやすさも評価してください。

半導体計測機器の安全な配送をどのように確保できますか?

敏感で高精度な機器の取り扱いに経験のある専門の配送サービスを利用してください。機器が適切に梱包され、クッション材や取り扱い説明書が含まれていることを確認してください。

半導体計測機器のメンテナンススケジュールはどのようになっていますか?

定期的な校正と検査が必須です。製造元のガイドラインに従って、光学部品の清掃やソフトウェアの更新確認などの予防保守を行ってください。すべてのメンテナンス活動の記録を保持してください。