テスト、実験室、医療機器 » 分光法

中古半導体

Microtrac NANOTRAC FLEX
- 新品
- メーカー: Microtrac
測定原理: 動的光散乱式 | 計算方法: 周波数解析法（FFT） | 測定角度: 180° | 測定範囲: 0.8 - 6500 nm | サンプルセル: 外部プローブ (in situ) | 粒子径分布測定専用: なし | 分子量測定: あり | 分子量範囲: ＜300 Da -＞ 20 x 10^6 Da | 温度調整範囲: +4°C - +90°C | 温度精度: ± 0.1°C | インライン測定: あり | ...
ハーン, ドイツ
TOPTICA TeraScan
- 新品
- メーカー: Toptica
差分周波数チューニングレンジ: 1.8 THz (2.0 THz typ.) | テラヘルツダイナミックレンジ (300 ms 積算時間): 80 dB @ 100 GHz 70 dB @ 500 GHz | 周波数最小ステップサイズ: < 10 MHz | チューニングスピード: 最大 100 GHz / sec | 周波数精度: < 2 GHz | テラヘルツエミッター: PCA-FD-0780-100-TX- ,...
ミュンヘン, ドイツ

概要

分光法は、物質と電磁放射との相互作用を分析するための科学技術です。化学、物理学、天文学などの分野で、物質の識別やその特性の理解に広く使用されます。分光法の機器は多岐にわたり、分光計や分光光度計など、光の吸収、放出、散乱のさまざまな側面を測定する装置が含まれます。

よくあるご質問

機器の年式、状態、キャリブレーション状況を確認してください。特定の分析ニーズに合致しているか、必要なアクセサリーやソフトウェアが付属しているかを確認してください。

精密科学機器を専門とする信頼できる配送サービスを利用してください。輸送中に機器が適切に梱包され、保険がかけられていることを確認してください。

定期的なメンテナンスには、キャリブレーション、光学部品の清掃、およびソフトウェアの更新が含まれます。特定のメンテナンススケジュールや手順については、メーカーのマニュアルを参照してください。