中古 計測・検査（半導体） 場所 南韓国

2014 Veeco、Dektak6M、アルファステップ

• メーカー: Veeco - Sloan
• 型番: Dektak

シリアルno.: 24278 | 数量: 1 | 設備詳細: アルファ・ステップ | 装置: アルファ・ステップ | 記述: N/A

KLA TENCOR, P-15, サーフェスプロファイラ (windows NT)

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-15

シリアルno.: 0704120887 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（ウィンドウズNT） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: ウィンドウズNT

2000年 KLA 2139

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: 2139

ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW

2002 MDC SIGNATION

• メーカー: MDC

ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW

2000 KLA UV-1080

• メーカー: KLA-Tencor

ウエハサイズ: 6", 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• メーカー: Hitachi
• 型番: HD-2300A

ウエハサイズ: N/A | プロセス: 走査型透過電子顕微鏡（STEM） | 出荷: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• メーカー: Hitachi
• 型番: NB5000

ウエハサイズ: N/A | プロセス: FIBセム | 出荷: EXW

HITACHI S5500

• メーカー: Hitachi
• 型番: S-5500

ウエハサイズ: N/A | プロセス: FEセム | 出荷: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• メーカー: LASER&PHYSICS

プロセス: マスクテスト機 | ウエハサイズ: N/A | 出荷: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• メーカー: KLA_TENCOR

プロセス: CI T1X0 REV.2 | 出荷: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• メーカー: KLA_TENCOR

プロセス: CI T1X0 | 出荷: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• メーカー: Nanometrics

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

HITACHI S 5000

• メーカー: Hitachi
• 型番: S-5000

METROLOGY P2

• メーカー: METROLOGY

METROLOGY Q230

• メーカー: METROLOGY

ウエハサイズ: 8"