半導体装置 » 計測・検査（半導体）

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中古計測・検査（半導体）

RUDOLPH Meta Pulse 3
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 300
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 金属厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- メーカー: KLA_TENCOR
プロセス: 膜厚測定 | ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
1996 HITACHI S-4160
- メーカー: Hitachi
- 型番: S-4160
ウエハサイズ: 6",8" | プロセス: FE SEM | 出荷: EXW
大韓民国
ジョーダンバレーJVX6200
- メーカー: JORDANVALLEY
ウエハサイズ: 12"
大韓民国
LINDA IN5-HI
- メーカー: LINDA
ウエハサイズ: * | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH FE-3
- メーカー: Rudolph
- 型番: FE-3
ウエハサイズ: 8" | プロセス: フォーカスエリプソメーター | 出荷: EXW
大韓民国
2008 RAYTEX RXW-800
- メーカー: RAYTEX
ウエハサイズ: 8" | プロセス: エッジ・スキャン | 出荷: EXW
大韓民国
2005年ルドルフ・メタパルス200
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2001 ルドルフメタパルス 200X CU
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2008 ルドルフメタパルスメタパルスII 200X CU
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2008 RUDOLPH NSK 105
- メーカー: Rudolph
出荷: EXW
大韓民国
2000 RUDOLPH METAPULSE200
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
HSEB AXIOSPECT 300
- メーカー: HSEB
- 型番: AXIOSPECT 300
出荷: EXW
大韓民国