中古 試験および測定

Gigabis AOI (confirmation machine)

• メーカー: gigabis

OMRON AOI Inspection System

• メーカー: Omron

OMRON AOI Inspection System

• メーカー: Omron

OMRON AOI Inspection System

• メーカー: Omron

OMRON AOI Inspection System

• メーカー: Omron

Gigabis AOI (inspection machine)

• メーカー: gigabis

OMRON AOI Inspection System

• メーカー: Omron

OMRON AOI Inspection System

• メーカー: Omron

OMRON AOI Inspection System

• メーカー: Omron

2005 RUDOLPH MP-300

• メーカー: Rudolph
• 型番: MP 300

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• メーカー: Rudolph
• 型番: MP 300

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• メーカー: Rudolph
• 型番: MP 300

ウエハサイズ: 8" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW

1997 KLA AIT

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: AIT

ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• メーカー: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• メーカー: Rudolph
• 型番: AXI

ウエハサイズ: 12" | プロセス: マクロ検査 | 出荷: EXW