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中古寸法・形状を測る

キーエンスワンショット3D形状測定機 VR-3200
年　　式: 2015年 | 測定可能高さ: 広視野モード10mm、高倍率モード1mm（±0.5mm） | 倍　　率: 広視野モード12、25、38、50×切換 | デジタルズーム: １～4× | 高さ表示分解能: 0.1μm | 繰り返し精度: 高さ測定0.5μm　／　幅測定広視野モード 1μm、高倍率モード0.5μｍ | 連結機能: 全自動測定（XY自動制御＋オートフォーカス） | ステージ: XYストローク 184...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンス超深度カラー3D形状測定顕微鏡 VK-9510
測定レーザ光源: 波長バイオレットレーザ408nm（最大出力 | 対物レンズ: 10、20、50、150×（15型モニタ－倍率200×、400×、1000×、3000×） | 高さ測定: 測定範囲7ｍｍ、表示分解能0.01μｍ | 幅測定: 表示分解能0.01μｍ | 表示分解能: 1024×768 | 光学ズーム: 1～6×（0.1ステップ） | Ｘｙストローク: 70x70mm、回転360° | 電　　源: AC10...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンス画像寸法測定器 IM-6700【IM-6225】
コントローラ: IM-6700 | 測定ヘッド: IM-6225（ワイド視野可変照明タイプ） | 撮影素子: 660万画素モノクロCMOS | ディスプレイ: 10.4型、LCDカラーモニター | 視　　野: φ100×L200mm（広視野）、□25×L125mm（高精度） | 最小表示単位: 0.1μm | 測定精度±2σ: 連結なし広視野 | 連結あり広視野: ±（7＋0.02L）μm、高精度 | データ記録: 25...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンス画像寸法測定器 IM-6600【IM-6140】
コントローラ: IM-6600 | 測定ヘッド: IM-6140（高精度タイプ） | 撮影素子: 660万画素CMOS（モノクロ） | ディスプレイ: 10.4型、LCDカラーモニター | 視　　野: φ25mm（広視野測定モード）、Φ6mm（高精度測定モード） | 最小表示単位: 0.1μm | 測定精度: 連結なし　±2μm（広視野測定モード）、±0.7μm（高精度測定モード） | 照　　明: テレエキセントリック透...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンス画像寸法測定器 IM-6600【IM-6120】
コントローラ: IM-6600 | 測定ヘッド: IM-6120 | 撮影素子: 660万画素CMOS（モノクロ） | ディスプレイ: 10.4型、LCDカラーモニター | 視　　野: φ100×L200mm（広視野測定モード）、□25×L125mm（高精度測定モード） | 最小表示単位: 0.1μm | 測定精度: 連結なし　±5μm（広視野測定モード）、±2μm（高精度測定モード） | 照　　明: テレエキセントリッ...
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【中古品】日立ハイテクサイエンス走査型白色干渉顕微鏡 VERT SCAN R5500GL-LED-A150
選択可能波長: 530nm | 対物レンズ: 5x（マイケルソン型）、10x、20x、50x（ミロー型） | 接眼レンズ: CFI15x、視野数14.5 | カメラ: 1/3型CCD | 光　　源: 白色LED | ピエゾ測定モード／測定レンジ: Phase/4μm、Wave/+10～-140μm、Focus/+10～-140μm | モーター測定モード／測定レンジ: WaveM/150μm、FocusM/3000μm（...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンスハンディプローブ三次元測定機 XM-T1000【XM-1500】
測定部: XM-T1000（2プローブタイプ） | コントローラ: XM-1500 | 測定範囲: 300mm×250mm×150mm | 撮影素子: 400万画素CMOSイメージセンサ | ディスプレイ: 15型LCDモニター（XGA | ステージ部: 耐荷重 | X軸可動範囲: 固定 | 回転範囲: 固定 | 最小表示単位: 距離1μm、角度0.0001度 | プローブ数: 2 | コントローラーｈｄｄ: 320GB...
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【中古品】東京精密 CNC真円度円柱形状測定機ロンコム54DX
測定範囲: 最大測定径　外形測定 φ300ｍｍ | 指示精度: 半径方向（R軸）（2＋L／170）μｍL | 回転速度: 測定時　2～10／min時計回り | オートストップ精度: Z軸／R軸　±5μｍ | 回転テーブル: 外形φ220ｍｍ（調整±2μｍ／±1°電動）、積載30kg迄 | 検出器: 測定力30～100mN | フィルタ種類: ガウシアン／2RC | 測定項目: 回転方向 | 電　　源: AC100V　50...
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【中古品】ブルカー 3次元白色光干渉型顕微鏡 Contour GT-X
年　　式: 2012年 | 測定原理: VSI方式　白色垂直走査干渉方式 | 垂直方向分解能: (PSI)0.1nmRa、(VXI)0.5nm、(VSI)1nm Ra | 最大垂直段差: (PSI)100nm、(VXI)150um、 (VSI)10ｍｍ | 段差測定正確性: 0.5％以下（8um基準段差測定時／VSI） | 光量調整: 自動調整機能あり | ステージ: XYZ自動ステージ、12インチ（300×300ｍｍ）...
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【中古品】三鷹光器非接触三次元測定装置 NH-3N
観察高額系: 無限遠鏡筒 | 対物レンズ: 10×（WD=7mm）、50×（WD=8.1mm）、100×（WD=3.18mm） | Ｘｙ軸: 0.1μｍ | 搭載台寸法: W244 × D240ｍｍ | 測定物最大高さ／重量: 105mm ／ 12kg | Ｚ１軸（ａｆ）: 0.01μｍ | Ｘ、ｙ軸: （2+4L／1000）μｍ | Ｚ１（ａｆ）: （0.3+0.5L／10）μm | フォーカスエリア: 100× | ...
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【中古品】テサ精密デジタルハイトゲージミューハイト
測長範囲: 0-100mm | 分解能: 0.001、0.0001mm切換式 | 計測プローブ: φ3mm超硬ボール付き | 試料台: グラナイトテーブル | 試料台寸法: W200×D300×H50mm | 電　　源: AC100～240V 50/60Hz
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【中古品】ミツトヨ表面粗さ測定機サーフテスト SV-3100W8
Ｃｏｄｅ: 178-478-1 | 年　　式: 2015年式 | 傾斜機構: あり（X軸、傾斜角度±45度） | 測定範囲／分解能: X軸　200㎜/0.05μm | 駆動部分: X軸　真直精度　（0.05+0.001L）μm　L:駆動長さ（mm） | 検出器: 178-396-2　測定力0.75mN（?97 ISO、?01JIS準拠の検出器） | スタイラス: 標準／丸棒測定用（12AAC731-12AAB355）形状...
福岡市, 日本
【中古品】ミツトヨ表面粗さ測定機サーフテスト SV-3000S4
C　o　d　e: 178-663 | 年　　　式: 2011年式 | 測定範囲/分解能: Z軸　800μm/0.01μm、80μm/0.001μm、8μm/0.0001μm | 駆　動　部　分: X軸　真直精度　（0.05+1.5L/1000）μm　L:駆動長さ（mm） | 検　出　器: 測定力0.75mN | 測定パラメータ: Ra,Rq,Rz,Rc,Ry,RzDINなど | 評価曲線: 断面曲線、粗さ曲線、うねり曲線...
福岡市, 日本
【中古品】ミツトヨ微細形状測定システム UMAP Vision System Hyper302
機種タイプ: Type2　／　103（先端チップ呼び径　φ30μm） | 測定範囲: UMAP　　185 x Y200 x Z175mm | 照明装置: 垂直落射照明（白赤青緑LED）、透過照明（白LED） | 積載ガラス径: 399 x 271mm | 最大測定物: 10kg | 駆動速度: UMAP　　10μm／s | コントローラー: UMAP IF部用／QVC QV測定部用　各1台 | オートフォーカス: レーザ...
福岡市, 日本
【中古品】ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-3020
光学倍率: 0.5×～7.5×（9.33×7～0.622×0.467mm）（タイプ１） | ストローク: X軸300×Y軸200×Z軸150(mm) | オートフォーカス: TTLレーザAF／イメージAF | 照　　明: 透過、垂直落射、8分割白色LEDリング照明（中入射角／大入射角） | 観察カメラ: カラー1／3型CCD | 作動距離: 50mm | 被検物重量: 最大20kg | ホストｐｃ: OS Windows...
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