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キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3200
中古
年 式: 2015年 | 測定可能高さ: 広視野モード10mm、高倍率モード1mm（±0.5mm） | 倍 率: 広視野モード12、25、38、50×切換 | デジタルズーム: １～4× | 高さ表示分解能: 0.1μm | 繰り返し精度: 高さ測定0.5μm ／ 幅測定 広視野モード 1μm、高倍率モード0.5μｍ | 連結機能: 全自動測定（XY自動制御＋オートフォーカス） | ステージ: XYストローク 184...
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キーエンス 超深度カラー3D形状測定顕微鏡 VK-9510
中古
測定レーザ光源: 波長バイオレットレーザ408nm（最大出力 | 対物レンズ: 10、20、50、150×（15型モニタ－倍率200×、400×、1000×、3000×） | 高さ測定: 測定範囲7ｍｍ、表示分解能0.01μｍ | 幅測定: 表示分解能0.01μｍ | 表示分解能: 1024×768 | 光学ズーム: 1～6×（0.1ステップ） | Ｘｙストローク: 70x70mm、回転360° | 電 源: AC10...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3200
中古
測定ヘッド／コントローラ: VR-3200/VR-3000 | 観察モード: 広視野（12,25,38,50x）、高倍率（40,80,120,160x）15型モニター上 | 測定可能高さ: 広視野（10mm±5mm）、高倍率（1mm±0.5mm） | 測定精度: ±3μm（高さ）、±5μm（広視野、幅測定）、±2μm（高倍率、幅測定） | ステージストローク: X184mmxY88mm（電動）、Φ90mm回転テーブル |...
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キーエンス 画像寸法測定器 IM-6600【IM-6120】
中古
コントローラ: IM-6600 | 測定ヘッド: IM-6120 | 撮影素子: 660万画素CMOS（モノクロ） | ディスプレイ: 10.4型、LCDカラーモニター | 視 野: φ100×L200mm（広視野測定モード）、□25×L125mm（高精度測定モード） | 最小表示単位: 0.1μm | 測定精度: 連結なし ±5μm（広視野測定モード）、±2μm（高精度測定モード） | 照 明: テレエキセントリッ...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンス 画像寸法測定器 IM-6600【IM-6140】
中古
コントローラ: IM-6600 | 測定ヘッド: IM-6140（高精度タイプ） | 撮影素子: 660万画素CMOS（モノクロ） | ディスプレイ: 10.4型、LCDカラーモニター | 視 野: φ25mm（広視野測定モード）、Φ6mm（高精度測定モード） | 最小表示単位: 0.1μm | 測定精度: 連結なし ±2μm（広視野測定モード）、±0.7μm（高精度測定モード） | 照 明: テレエキセントリック透...
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【中古品】日立ハイテクサイエンス 走査型白色干渉顕微鏡 VERT SCAN R5500GL-LED-A150
中古
選択可能波長: 530nm | 対物レンズ: 5x（マイケルソン型）、10x、20x、50x（ミロー型） | 接眼レンズ: CFI15x、視野数14.5 | カメラ: 1/3型CCD | 光 源: 白色LED | ピエゾ測定モード／測定レンジ: Phase/4μm、Wave/+10～-140μm、Focus/+10～-140μm | モーター測定モード／測定レンジ: WaveM/150μm、FocusM/3000μm（...
福岡市, 日本
【中古品】キーエンス ハンディプローブ三次元測定機 XM-T1000【XM-1500】
中古
測定部: XM-T1000（2プローブタイプ） | コントローラ: XM-1500 | 測定範囲: 300mm×250mm×150mm | 撮影素子: 400万画素CMOSイメージセンサ | ディスプレイ: 15型LCDモニター（XGA | ステージ部: 耐荷重 | X軸可動範囲: 固定 | 回転範囲: 固定 | 最小表示単位: 距離1μm、角度0.0001度 | プローブ数: 2 | コントローラーｈｄｄ: 320GB...
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東京精密 CNC真円度円柱形状測定機 ロンコム54DX
中古
測定範囲: 最大測定径 外形測定 φ300ｍｍ | 指示精度: 半径方向（R軸）（2＋L／170）μｍL | 回転速度: 測定時 2～10／min時計回り | オートストップ精度: Z軸／R軸 ±5μｍ | 回転テーブル: 外形φ220ｍｍ（調整±2μｍ／±1°電動）、積載30kg迄 | 検出器: 測定力30～100mN | フィルタ種類: ガウシアン／2RC | 測定項目: 回転方向 | 電 源: AC100V 50...
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三鷹光器 非接触三次元測定装置 NH-3N
中古
観察高額系: 無限遠鏡筒 | 対物レンズ: 10×（WD=7mm）、50×（WD=8.1mm）、100×（WD=3.18mm） | Ｘｙ軸: 0.1μｍ | 搭載台寸法: W244 × D240ｍｍ | 測定物最大高さ／重量: 105mm ／ 12kg | Ｚ１軸（ａｆ）: 0.01μｍ | Ｘ、ｙ軸: （2+4L／1000）μｍ | Ｚ１（ａｆ）: （0.3+0.5L／10）μm | フォーカスエリア: 100× | ...
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ミツトヨ 微細形状測定システム UMAP Vision System Hyper302
中古
機種タイプ: Type2 ／ 103（先端チップ呼び径 φ30μm） | 測定範囲: UMAP 185 x Y200 x Z175mm | 照明装置: 垂直落射照明（白赤青緑LED）、透過照明（白LED） | 積載ガラス径: 399 x 271mm | 最大測定物: 10kg | 駆動速度: UMAP 10μm／s | コントローラー: UMAP IF部用／QVC QV測定部用 各1台 | オートフォーカス: レーザ...
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キーエンス ダブルスキャン高精度レーザ測定器 LT-9500 LT-9030M
中古
最小表示単位: 0.01μm | 表示範囲: ±9999.99μm | 表示周期: 10回/秒 | アナログ出力: ±10V×2出力、出力インピーダンス100Ω | 電 源: AC100~240V±10% 50/60Hz | 質 量: 約500g | 測定範囲: ±1.0mm | 基準距離: 30mm | 光 源: 赤色半導体レーザー | 光源波長: 655nm | 光源クラス: クラス１（JIS） | 光源スポット径:...
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テサ精密 デジタルハイトゲージ ミューハイト
中古
測長範囲: 0-100mm | 分解能: 0.001、0.0001mm切換式 | 計測プローブ: φ3mm超硬ボール付き | 試料台: グラナイトテーブル | 試料台寸法: W200×D300×H50mm | 電 源: AC100～240V 50/60Hz
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ミツトヨ 表面粗さ測定機 サーフテスト SV-3100W8
中古
Ｃｏｄｅ: 178-478-1 | 年 式: 2015年式 | 傾斜機構: あり（X軸、傾斜角度±45度） | 測定範囲／分解能: X軸 200㎜/0.05μm | 駆動部分: X軸 真直精度 （0.05+0.001L）μm L:駆動長さ（mm） | 検出器: 178-396-2 測定力0.75mN（?97 ISO、?01JIS準拠の検出器） | スタイラス: 標準／丸棒測定用（12AAC731-12AAB355）形状...
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ミツトヨ 表面粗さ測定機 サーフテスト SV-3000S4
中古
C o d e: 178-663 | 年 式: 2011年式 | 測定範囲/分解能: Z軸 800μm/0.01μm、80μm/0.001μm、8μm/0.0001μm | 駆 動 部 分: X軸 真直精度 （0.05+1.5L/1000）μm L:駆動長さ（mm） | 検 出 器: 測定力0.75mN | 測定パラメータ: Ra,Rq,Rz,Rc,Ry,RzDINなど | 評価曲線: 断面曲線、粗さ曲線、うねり曲線...
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ブルカー 3次元白色光干渉型顕微鏡 Contour GT-X
中古
年 式: 2012年 | 測定原理: VSI方式 白色垂直走査干渉方式 | 垂直方向分解能: (PSI)0.1nmRa、(VXI)0.5nm、(VSI)1nm Ra | 最大垂直段差: (PSI)100nm、(VXI)150um、 (VSI)10ｍｍ | 段差測定正確性: 0.5％以下（8um基準段差測定時／VSI） | 光量調整: 自動調整機能あり | ステージ: XYZ自動ステージ、12インチ（300×300ｍｍ）...
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