中古 膜厚を測る

【中古品】フィッシャー ハンディタイプ膜厚計 FMP40

プローブモデル: FD10 | 測定モード: 電磁誘導法、振幅感応渦電流法 | 測定可能なコーティング: 鋼鉄または鉄(Fe)上の非磁性コーティング(NF) | 環境温度範囲: 10℃～40℃ | 許容相対空気湿度: 30～90%（結露なし） | 電源: 単三電池 1.5V×4本 またはACアダプター | 外寸: 約W90×D170×H35 | 重量: 約340g（プローブ無し）

【中古品】日立ハイテクサイエンス 蛍光X線膜厚計 SFT9400

装置の特徴: 微小部対応高機能タイプ | 測定対象元素: 原子番号22（Ti）～83（Bi） | Ｘ線源: Wターゲット | 管電圧: 50kV　管電流 | 検出器: 比例計数管+半導体検出器（液化窒素レス検出器） | 装置校正: 自動校正+マニュアル校正 | コリメータ: 0.05×0.05mm、0.015mmφ、0.1mmφ、0.025×0.4ｍｍ | 安全機能: 試料扉インターロック、試料の衝突防止機能あり | 試...

【中古品】日立ハイテクサイエンス 高性能蛍光X線膜厚計 SFT9550X

X　線　管: 管電圧 50kV　管電流 600～1000μA定性アプリケーションのみ | Ｘ線照射方式: 上面垂直照射方式（ターゲット材料Mo、窓材質 Be） | Ｘ線光学系: ポリキャピラリ | ビーム径: φ30μｍ（MoKα線の90％を含む径） | Ｘ線検出部: ドリフト型半導体検出器（液化窒素レス） | 試料観察: CCDカメラ（ズーム有） | 焦点合わせ: レーザーポインター | 装置制御: X-ray Sta...

【中古品】大塚電子 顕微分光膜厚計 OPTM-A1

測定波長: 230～800nm | 膜厚測定範囲: 1nm～35nmSiO2換算 | レンズ: 反射対物レンズ20×（OP2LE-20） | 測定径: φ10μｍ | ﾌｫｰｶｽ機能: オートフォーカス | 多層膜解析: 最大50層 | 電源: AC100V　50/60Hz　370VA以下 | Xyz移動量: X200X × Y200 ×Z17（mm） | 本体寸法: W555 × D655 × H620（ｍｍ） | 本...

【中古品】キーエンス 超深度カラー3D形状測定顕微鏡 VK-9510

測定レーザ光源: 波長バイオレットレーザ408nm（最大出力 | 対物レンズ: 10、20、50、150×（15型モニタ－倍率200×、400×、1000×、3000×） | 高さ測定: 測定範囲7ｍｍ、表示分解能0.01μｍ | 幅測定: 表示分解能0.01μｍ | 表示分解能: 1024×768 | 光学ズーム: 1～6×（0.1ステップ） | Ｘｙストローク: 70x70mm、回転360° | 電　　源: AC10...

【中古品】ブルカー 3次元白色光干渉型顕微鏡 Contour GT-X

年　　式: 2012年 | 測定原理: VSI方式　白色垂直走査干渉方式 | 垂直方向分解能: (PSI)0.1nmRa、(VXI)0.5nm、(VSI)1nm Ra | 最大垂直段差: (PSI)100nm、(VXI)150um、 (VSI)10ｍｍ | 段差測定正確性: 0.5％以下（8um基準段差測定時／VSI） | 光量調整: 自動調整機能あり | ステージ: XYZ自動ステージ、12インチ（300×300ｍｍ）...

【中古品】ニコン 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-A505（MM-800LU）