中古 分光法

Microtrac 文献一覧 学術論文で参照されているMicrotrac

• 新品

• メーカー: Microtrac

Microtrac NANOTRAC FLEX

• 新品

• メーカー: Microtrac

測定原理: 動的光散乱式 | 計算方法: 周波数解析法（FFT） | 測定角度: 180° | 測定範囲: 0.8 - 6500 nm | サンプルセル: 外部プローブ (in situ) | 粒子径分布測定専用: なし | 分子量測定: あり | 分子量範囲: ＜300 Da -＞ 20 x 10^6 Da | 温度調整範囲: +4°C - +90°C | 温度精度: ± 0.1°C | インライン測定: あり | ...

Microtrac NANOTRAC WAVE II

• 新品

• メーカー: Microtrac

測定原理: 動的光散乱式 | 計算方法: 周波数解析法（FFT） | 測定角度: 180° | 測定範囲: 0.8 - 6500 nm | サンプルセル: サンプルに応じて、豊富なセルのラインナップ | 粒子径分布測定専用: あり | ゼータ電位測定 測定範囲: -200 mV - +200 mV | ゼータ電位測定 (粒子径): 10 nm - 20 µm | 電気泳動移動度: 0 - 15 (µm/s) / (V/...

TOPTICA TeraScan

• 新品

• メーカー: Toptica

差分周波数チューニングレンジ: 1.8 THz (2.0 THz typ.) | テラヘルツダイナミックレンジ (300 ms 積算時間): 80 dB @ 100 GHz 70 dB @ 500 GHz | 周波数最小ステップサイズ: < 10 MHz | チューニングスピード: 最大 100 GHz / sec | 周波数精度: < 2 GHz | テラヘルツ エミッター: PCA-FD-0780-100-TX- ,...

TOPTICA Phase Modulation Extension

• 新品

• メーカー: Toptica

製品コンセプト: ピエゾ圧電素子を用いたツインファイバーストレッチャー | 波長: 780 nm,  TeraScan 780 / TeraBeam 780システムに依存します。 | 差分周波数チューニングレンジ: TeraScan / TeraBeam システムの製品ページをご覧下さい。 | 差分周波数チューニング分解能: TeraScan / TeraBeam システムの製品ページをご覧下さい。 完全な強度と位相の情...