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2012 Takagi OM-5 Operational microscope
中古
- メーカー: Takagi
$4,250 USD大阪市, 日本 オリンパス 金属顕微鏡 BX60M
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観察法: 明視野、暗視野、微分干渉 | ステージストローク: - | 総合倍率: 50、100、200、500× | 鏡筒: 普通視野双眼鏡筒(倒立、正像) | 接眼レンズ: WHSZ10×、視野数22 | 照明: 落射照明、12V100W | 対物レンズ: UMPlanFL 5x、10x、20x、50xBD P | その他: 微分干渉装置 | ステージ: U-SVRC、右下ハンドル
福岡市, 日本オリンパス ピエゾステージ搭載金属顕微鏡 BX61
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顕微鏡: BX61(Z軸電動制御) | 観察法: 明視野 | 照 明: 落射(100Wハロゲン光源) | 対物レンズ: UMPLN FL 10x、LUCPLN FL 40x(補正環付)、UMPLN FL 100x | 顕微鏡カメラ: オリンパス/Teli CCDカラーカメラ(CS230B、有効画素数 768(H)×494(H)) | ステージ: X50xY50mm(MSS-50A、中央精機製)、QT-CM2/QT-Kコ...
福岡市, 日本キーエンス 超深度カラー3D形状測定顕微鏡 VK-9510
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測定レーザ光源: 波長バイオレットレーザ408nm(最大出力 | 対物レンズ: 10、20、50、150×(15型モニタ-倍率200×、400×、1000×、3000×) | 高さ測定: 測定範囲7mm、表示分解能0.01μm | 幅測定: 表示分解能0.01μm | 表示分解能: 1024×768 | 光学ズーム: 1~6×(0.1ステップ) | Xyストローク: 70x70mm、回転360° | 電 源: AC10...
福岡市, 日本ブルカー 3次元白色光干渉型顕微鏡 Contour GT-X
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年 式: 2012年 | 測定原理: VSI方式 白色垂直走査干渉方式 | 垂直方向分解能: (PSI)0.1nmRa、(VXI)0.5nm、(VSI)1nm Ra | 最大垂直段差: (PSI)100nm、(VXI)150um、 (VSI)10mm | 段差測定正確性: 0.5%以下(8um基準段差測定時/VSI) | 光量調整: 自動調整機能あり | ステージ: XYZ自動ステージ、12インチ(300×300mm)...
福岡市, 日本【中古品】日立ハイテクサイエンス 走査型白色干渉顕微鏡 VERT SCAN R5500GL-LED-A150
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選択可能波長: 530nm | 対物レンズ: 5x(マイケルソン型)、10x、20x、50x(ミロー型) | 接眼レンズ: CFI15x、視野数14.5 | カメラ: 1/3型CCD | 光 源: 白色LED | ピエゾ測定モード/測定レンジ: Phase/4μm、Wave/+10~-140μm、Focus/+10~-140μm | モーター測定モード/測定レンジ: WaveM/150μm、FocusM/3000μm(...
福岡市, 日本ビューラー 小型研磨機 MINIMET1000
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設定時間: 30秒~9分(10秒単位) | 設定速度: 10~50rpm(5rpm刻み) | 設定荷重: 0~10lbs(1lbs刻み)、0~50N(5N刻み) | 研磨ボウル: φ100mm | ガラス研磨盤: φ100mm | 外寸: W180×D400×H200mm | 電源: AC85~264V 47~70Hz 3~1.8A | 質量: 11kg
福岡市, 日本キーエンス 画像寸法測定器 IM-6600【IM-6120】
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コントローラ: IM-6600 | 測定ヘッド: IM-6120 | 撮影素子: 660万画素CMOS(モノクロ) | ディスプレイ: 10.4型、LCDカラーモニター | 視 野: φ100×L200mm(広視野測定モード)、□25×L125mm(高精度測定モード) | 最小表示単位: 0.1μm | 測定精度: 連結なし ±5μm(広視野測定モード)、±2μm(高精度測定モード) | 照 明: テレエキセントリッ...
福岡市, 日本【中古品】キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3200
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測定ヘッド/コントローラ: VR-3200/VR-3000 | 観察モード: 広視野(12,25,38,50x)、高倍率(40,80,120,160x)15型モニター上 | 測定可能高さ: 広視野(10mm±5mm)、高倍率(1mm±0.5mm) | 測定精度: ±3μm(高さ)、±5μm(広視野、幅測定)、±2μm(高倍率、幅測定) | ステージストローク: X184mmxY88mm(電動)、Φ90mm回転テーブル |...
福岡市, 日本【中古品】キーエンス 画像寸法測定器 IM-6600【IM-6140】
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コントローラ: IM-6600 | 測定ヘッド: IM-6140(高精度タイプ) | 撮影素子: 660万画素CMOS(モノクロ) | ディスプレイ: 10.4型、LCDカラーモニター | 視 野: φ25mm(広視野測定モード)、Φ6mm(高精度測定モード) | 最小表示単位: 0.1μm | 測定精度: 連結なし ±2μm(広視野測定モード)、±0.7μm(高精度測定モード) | 照 明: テレエキセントリック透...
福岡市, 日本ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-3020
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光学倍率: 0.5×~7.5×(9.33×7~0.622×0.467mm)(タイプ1) | ストローク: X軸300×Y軸200×Z軸150(mm) | オートフォーカス: TTLレーザAF/イメージAF | 照 明: 透過、垂直落射、8分割白色LEDリング照明(中入射角/大入射角) | 観察カメラ: カラー1/3型CCD | 作動距離: 50mm | 被検物重量: 最大20kg | ホストpc: OS Windows...
福岡市, 日本オムニフィジックス コンパクト・マニュアルプローバ SE-1000
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ステージ移動量: 約X130mm、Y190mm | 試料台ローテーション: 360度 | プローブとキャリアの移動量: 約13mm | チャックサイズ: 5インチ(φ130mm) | ウェハ保持方式: 真空吸着方式 | プローバー外寸法: 約W400×D450×H500mm | 重 量: 約40㎏ | 実体顕微鏡: SZ6045CHI(オリンパス製/11241)、接眼レンズGSWH 20×、ズーム1~6.3× | 電 ...
福岡市, 日本キーエンス 3Dスキャナ型三次元測定機 VL-300【VL-320】
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商品構成: コントローラー(VL-300)、測定部(VL-320)、ステージ部(VL310)、 | 測定範囲: 低倍 φ300mm×H200mm/高倍 φ70×H50mm | 表示分解能: 0.1μm | 繰り返し精度: 2μm測定条件付測定精度 | 撮像素子: 1型 400万画素 モノクロC-MOSイメージセンサ | 照明系: 観察用 三色LED(R,G,B)/測定用 青色LED | ズーム: 0.1~8× | ステー...
福岡市, 日本三鷹光器 非接触三次元測定装置 NH-3N
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観察高額系: 無限遠鏡筒 | 対物レンズ: 10×(WD=7mm)、50×(WD=8.1mm)、100×(WD=3.18mm) | Xy軸: 0.1μm | 搭載台寸法: W244 × D240mm | 測定物最大高さ/重量: 105mm / 12kg | Z1軸(af): 0.01μm | X、y軸: (2+4L/1000)μm | Z1(af): (0.3+0.5L/10)μm | フォーカスエリア: 100× | ...
福岡市, 日本ミツトヨ 微細形状測定システム UMAP Vision System Hyper302
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機種タイプ: Type2 / 103(先端チップ呼び径 φ30μm) | 測定範囲: UMAP 185 x Y200 x Z175mm | 照明装置: 垂直落射照明(白赤青緑LED)、透過照明(白LED) | 積載ガラス径: 399 x 271mm | 最大測定物: 10kg | 駆動速度: UMAP 10μm/s | コントローラー: UMAP IF部用/QVC QV測定部用 各1台 | オートフォーカス: レーザ...
福岡市, 日本