中古計測・検査（半導体）

KLA TENCOR, P-15, サーフェスプロファイラ (windows NT)
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
シリアルno.: 0704120887 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（ウィンドウズNT） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: ウィンドウズNT
スウォン市, 南韓国
1999 KLA、AFS-3220、平面度測定機
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: AMS069 | 数量: 1 | 設備詳細: 平坦度測定 | 装置: 平坦度測定 | 記述: ウエハ300mm、スキャン厚：精度0.25μm
スウォン市, 南韓国
2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: 48130711333 | 数量: 1 | 設備詳細: ウェハーサイト3 | 装置: ウェハーサイト3 | 記述: ウェハ450mm
スウォン市, 南韓国
VEECO、DEKTAK6M、サーフェスプロファイラ
- メーカー: Veeco - Sloan
- 型番: Dektak
シリアルno.: 34542 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: スキャン長50㎛～30mm、ウェーハ直径150mm
スウォン市, 南韓国
KLA TENCOR, P-15, ロングスキャンプロファイラ
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
シリアルno.: 905001693 | 数量: 1 | 設備詳細: ロングスキャンプロファイラ | 装置: ロングスキャンプロファイラ | 記述: N/A
スウォン市, 南韓国
KLA TENCOR、P-15、サーフェスプロファイラ（windows XP Professional）
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
シリアルno.: 0803105587 | 数量: 1 | 設備詳細: サーフェスプロファイラ（windows XP Professional） | 装置: サーフェスプロファイラ | 記述: Windows XP Professional
スウォン市, 南韓国
2010 KLA TENCOR、アルファステップIQ、ASIQ3
- メーカー: KLA-Tencor
シリアルno.: 7083372 | 数量: 1 | 設備詳細: アルファ・ステップIQ | 装置: アルファ・ステップIQ | 記述: Windows 7 pro
スウォン市, 南韓国
2000年 KLA 2139
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: 2139
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2011 HITACHI NB-5000
- メーカー: Hitachi
- 型番: NB5000
ウエハサイズ: N/A | プロセス: FIBセム | 出荷: EXW
大韓民国
HITACHI S5500
- メーカー: Hitachi
- 型番: S-5500
ウエハサイズ: N/A | プロセス: FEセム | 出荷: EXW
大韓民国
LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325
- メーカー: LASER&PHYSICS
プロセス: マスクテスト機 | ウエハサイズ: N/A | 出荷: EXW
大韓民国
2002 MDC SIGNATION
- メーカー: MDC
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2000 KLA UV-1080
- メーカー: KLA-Tencor
ウエハサイズ: 6", 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2006 HITACHI HD2300A
- メーカー: Hitachi
- 型番: HD-2300A
ウエハサイズ: N/A | プロセス: 走査型透過電子顕微鏡（STEM） | 出荷: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR CI T1X0
- メーカー: KLA_TENCOR
プロセス: CI T1X0 REV.2 | 出荷: EXW
京畿道, 南韓国