中古 計測・検査（半導体）

2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

• メーカー: Valley
• 型番: JVX6200I

ウエハサイズ: 12" | プロセス: X線計測（X線反射率） | 出荷: EXW

2013 ATI OAK-1

• メーカー: ATI

出荷: EXW

NANOMETRICS CALPER-ULTRA

• メーカー: Nanometrics

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

RUDOLPH S3000

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

2010 RUDOLPH S3000A

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

FEI FEM2010F

• メーカー: FEI
• 型番: FEM2010F

詳細: デュアルビーム | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: FEI FEM2010F デュアルビーム

2005 RUDOLPH MP200

• メーカー: Rudolph
• 型番: MP200

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

• メーカー: Nanometrics
• 型番: CALIPERMOSAIC

ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW`。

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

• メーカー: RODOLPH

ウエハサイズ: 12" | プロセス: フィルム厚み測定 | 出荷: EXW`。

ロドルフ・メタ・パルス300

• メーカー: RODOLPH

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW`。

J.A Woollam VUV-VASE

• メーカー: J.A Woollam

ウエハサイズ: 12" | プロセス: エリプソメーター | 出荷: EXW`。

2001 HITACHI S4700-I

• メーカー: Hitachi
• 型番: S-4700

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 走査型電子顕微鏡 | 出荷: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 3

• メーカー: Rudolph

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW

RUDOLPH S3000A

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | 出荷: EXW