中古 計測・検査（半導体）

2006年日立ISE2700E

• メーカー: Hitachi
• 型番: IS2700SE

ウエハサイズ: 12" | 詳細: Eビーム検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: HITACHI IS2700SE Eビーム検査

2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• メーカー: Nanometrics

ウエハサイズ: 12" | プロセス: マスク＆ウェハ検査 | 出荷: EXW

KLA TENCOR P-15

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-15

2006 Micro-Vu Vertex 420

• メーカー: Micro-Vu

ウエハサイズ: N/A | 出荷: EXW

CAMECA EX300

• メーカー: Cameca

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

Hitachi S4700II

• メーカー: Hitachi
• 型番: S 4700

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

2011 RUDOLPH S3000A

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

RUDOLPH S3000A

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー

RUDOLPH S3000A

• メーカー: Rudolph
• 型番: S3000A

ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW

ONTO WV320

• メーカー: Onto

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• メーカー: Rudolph
• 型番: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• メーカー: RODOLPH

ウエハサイズ: 8 | 3 ウエハーサイズ: 8" | 出荷: EXW

HITACHI S4700-II

• メーカー: Hitachi
• 型番: S 4700

ウエハサイズ: 12" | プロセス: FESEMとHorriba EMAX EDX | 出荷: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• メーカー: PUDOLPH

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW