半導体装置 » 計測・検査（半導体）

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中古計測・検査（半導体）

RUDOLPH Meta Pulse
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2012 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 8" | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー | チェンバー: EXW
大韓民国
KLA_TENCOR P-12
- メーカー: KLA_TENCOR
ウエハサイズ: 6",8" | プロセス: ディスクプロファイラー | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH Meta Pulse 300
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2010 BRUKER JVX6200
- メーカー: Bruker
プロセス: メトロ | 出荷: EXW
大韓民国
RUDOLPH FE-4D
- メーカー: Rudolph
ウエハサイズ: 8" | プロセス: フォーカスエリプソメーター | 出荷: EXW
大韓民国
2008 LASERTEC BGM 300
- メーカー: Lasertec
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェーハ表面分析・可視化システム | 出荷: EXW
大韓民国
2003 RUDOLPH MP200
- メーカー: Rudolph
- 型番: MP200
ウエハサイズ: 8
大韓民国
2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- メーカー: J.A.WOOLLAM
ウエハサイズ: 8" | プロセス: ELLIPSOMETER | 出荷: EXW
大韓民国
2001 ルドルフメタパルス 200X CU
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2005年ルドルフ・メタパルス200
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2008 ルドルフメタパルスメタパルスII 200X CU
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2008 RUDOLPH NSK 105
- メーカー: Rudolph
出荷: EXW
大韓民国
2004 RUDOLPH METAPULSE200
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国
2003 Rudolph Metapulse 200X cu
- メーカー: Rudolph
- 型番: Metapulse 200
ウエハサイズ: 8" | プロセス: MET | 出荷: EXW
大韓民国