半導体装置 » 計測・検査（半導体）

Building Filters

191

中古計測・検査（半導体）

2006年日立ISE2700E
- メーカー: Hitachi
- 型番: IS-2700SE
ウエハサイズ: 12" | 詳細: Eビーム検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: HITACHI IS2700SE Eビーム検査
大韓民国
KLA TENCOR P-15
- メーカー: KLA-Tencor
- 型番: P-15
大韓民国
2006 Micro-Vu Vertex 420
- メーカー: Micro-Vu
ウエハサイズ: N/A | 出荷: EXW
大韓民国
Hitachi S4700II
- メーカー: Hitachi
- 型番: S-4700
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
2011 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
2011 RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW | プロセス: 集光ビームレーザーエリプソメトリー
大韓民国
RUDOLPH S3000A
- メーカー: Rudolph
- 型番: S3000A
ウエハサイズ: 12 | 出荷: EXW
大韓民国
ONTO WV320
- メーカー: Onto
ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW
大韓民国
2000 RUDOLPH MP200
- メーカー: Rudolph
- 型番: MP200
大韓民国
1998 RODOLPH Meta Pulse 200
- メーカー: RODOLPH
ウエハサイズ: 8 | 3 ウエハーサイズ: 8" | 出荷: EXW
大韓民国
HITACHI S4700-II
- メーカー: Hitachi
- 型番: S-4700
ウエハサイズ: 12" | プロセス: FESEMとHorriba EMAX EDX | 出荷: EXW
大韓民国
PUDOLPH Meta Pluse3
- メーカー: PUDOLPH
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW
大韓民国
2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- メーカー: Nanometrics
ウエハサイズ: 12" | プロセス: オーバーレイ | 出荷: EXW
大韓民国
2003 HITACHI RS 4000
- メーカー: Hitachi
- 型番: RS-4000
ウエハサイズ: 12" | プロセス: 欠陥レビュー Sem | 出荷: EXW
大韓民国