中古 計測・検査（半導体）

KLA_TENCOR P-12

• 中古

• メーカー: KLA_TENCOR

ウエハサイズ: 6",8" | プロセス: ディスクプロファイラー | 出荷: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• 中古

• メーカー: Rudolph

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 膜厚測定 | 出荷: EXW

2010 BRUKER JVX6200

• 中古

• メーカー: Bruker

プロセス: メトロ | 出荷: EXW

RUDOLPH FE-4D

• 中古

• メーカー: Rudolph

ウエハサイズ: 8" | プロセス: フォーカスエリプソメーター | 出荷: EXW

2008 LASERTEC BGM 300

• 中古

• メーカー: Lasertec

ウエハサイズ: 8" | プロセス: ウェーハ表面分析・可視化システム | 出荷: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: MP200

ウエハサイズ: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• 中古

• メーカー: J.A.WOOLLAM

ウエハサイズ: 8" | プロセス: ELLIPSOMETER | 出荷: EXW

2010 RUDOLPH WS3840

• 中古

• メーカー: Rudolph
• 型番: WS3840

ウエハサイズ: 12" | プロセス: 3Dバンプ計測 | 出荷: EXW`。

JEOL JWS-7515

• 中古

• メーカー: Jeol
• 型番: JWS-7515

詳細: ウェハ検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: 日本電子 JWS-7515 ウェハ検査

2006年日立ISE2700E

• 中古

• メーカー: Hitachi
• 型番: IS2700SE

ウエハサイズ: 12" | 詳細: Eビーム検査 | 船積み: 梱包と発送は購入者の責任 | コンメンタール: HITACHI IS2700SE Eビーム検査

2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• 中古

• メーカー: Nanometrics

ウエハサイズ: 12" | プロセス: マスク＆ウェハ検査 | 出荷: EXW

KLA TENCOR P-15

• 中古

• メーカー: KLA-Tencor
• 型番: P-15

2006 Micro-Vu Vertex 420

• 中古

• メーカー: Micro-Vu

ウエハサイズ: N/A | 出荷: EXW

CAMECA EX300

• 中古

• メーカー: Cameca

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW

Hitachi S4700II

• 中古

• メーカー: Hitachi
• 型番: S 4700

ウエハサイズ: 12" | 出荷: EXW